[发明专利]一种用于检测触控面板的线性度的方法

说明书

技术领域

本发明涉及触控面板的检测技术，尤其涉及触控面板的线性度的检测技术。

背景技术

当前，越来越多的电子设备都采用触控型的交互接口，以方便使用者灵活地输入汉字、字母或者符号，以及选择对应的功能菜单，从而避免因机械键盘所带来的不良影响。在尺寸大小不同的触控面板中，检测面板的线性准确度是极为重要的，因为线性度不佳就意味着使用者在触压面板表面时会发生误动作的情形。

在现有的检测方法中，通常使用线性测试机的工作平台，将触控面板放置在平台上，利用伺服电机和传感器来进行线性度测试。然而，一方面，这种线性测试机价格昂贵，并且需要定期校验触控面板所需的压力数值大小，操作流程相对比较复杂；另一方面，该方法的测试时间比较长，只适合于抽样检测，可能会忽略不符合要求的触控面板。

发明内容

针对现有技术中检测触控面板的线性度时所存在的上述缺陷，本发明提供了一种用于检测触控面板线性度的方法，以方便快捷地完成线性度检测，降低检测成本并且缩短检测时间。

根据本发明的一个方面，提供了一种用于检测触控面板的线性度的方法，包括以下步骤：

提供具有测试轨道的工作平台；

将工作平台叠放在触控面板上；

放置测试球于测试轨道的一端；以及

沿着测试轨道，滚动测试球至测试轨道的另一端。

其中，使用金属材质来制成测试球体。优选地，测试球与触控面板的表面为点接触方式，并且基于测试球的重量来产生的压力数值在触控面板允许的正常压力范围内。此外，测试球的直径随着触控面板的尺寸大小变化而变化。

其中，测试轨道为一“S”形状。

其中，将触控面板设置在一机座的相应位置处。

其中，触控面板应用于移动电话、PDA(Personal DigitalAssistance，个人数字助理)、MP3、MP4、个人计算机或者笔记本电脑等电子设备。

采用本发明的用于检测触控面板线性度的方法，可以方便快捷地完成线性度检测，降低检测成本并且缩短检测时间。此外，使用钢球重量来控制触控面板所获得的下压力，对于尺寸不同的触控面板的线性度测试来说，调整方便并且下压力数值恒定。

附图说明

读者在参照附图阅读了本发明的具体实施方式以后，将会更清楚地了解本发明的各个方面。其中，

图1示出依据本发明的检测方法来检测触控面板时的结构示意图；以及

图2示出依据本发明的检测方法来检测触控面板的流程示意图。

具体实施方式

下面参照附图，对本发明的具体实施方式作进一步的详细描述。

从构成材料的角度来看，触控面板大致可以分为电阻式、电容式、超声波式、光学(例如红外线)式等几种类型。以当前市场占有率最高的电阻式触控面板为例，简要说明基于触控产生的下压力来确定像素位置的具体实现原理：触控装置由上、下两层电阻膜(即X层电阻膜与Y层电阻膜)以及一块控制电路板构成。在X层电阻膜上，沿X轴方向设有一对由电阻膜连接的X电极，在X层电阻膜的最外侧两端分别为X+电极与X-电极；在Y层电阻膜上，沿Y轴方向设有一对由电阻膜连接的Y电极，在Y层电阻膜的最外侧两端分别为Y+电极与Y-电极。在X层电阻膜和Y层电阻膜上电极的一侧交互施加一预定电压，当触压两层电阻膜外表面上的任意位置时，经由非通电的另一侧电极来测量出由于两电阻膜触压后的电压值，以得到触压位置的X坐标和Y坐标。因此，使用者触压的位置与二维坐标系中的X坐标和Y坐标是一一对应的。

图1示出依据本发明的检测方法来检测触控面板时的结构示意图。参照图1，在机座10的相应位置处安装触控面板12。为了检测触控面板12表面的线性度，将工作平台14(也可称为检测平台)叠放在触控面板12之上。其中，工作平台14具有一测试轨道，优选地，该测试轨道为一S形状。当钢球16从测试轨道的一端滚动到另一端时，因钢球16自身重量产生的下压力施加于测试路径上的每一测试点，该测试点对应于触控面板上相应点的线性值。

本领域的普通技术人员应当理解，当钢球16沿测试轨道滚动时，钢球16与触控面板的表面为点接触方式，而且由钢球16的重量产生的压力数值必须在触控面板所允许的正常压力范围内。此外，不同尺寸大小的触控面板在进行线性度测试时，钢球16的直径可以随之改变。例如，当检测中的触控面板尺寸变大时，可以换用直径稍大的钢球进行检测；将检测中的触控面板尺寸变小时，则换用直径稍小的钢球以减小下压力数值。