[发明专利]接触式电子检验模块

说明书

技术领域

本发明关于一种接触式电子检验模块，尤指一种应用在接触式集成电路 (IC)及其它电子产品检验设备的接触式电子检验模块。

背景技术

一般集成电路(IC)及其它电子产品制造完成时，必需经过多项检验， 以确保产品的良率。现有的集成电路(IC)及其它电子产品的检验方式，主 要分为非接触式检验及接触式检验二种，非接触式检验是应用光学设备检 验，接触式检验则将集成电路或其它电子产品放置在检测装置上，通过检测 装置的探针(端子)与集成电路或其它电子产品的接点作接触，藉此取得检 验数据，用以验证其质量。

为了使接触式检验设备可以适应多种集成电路(IC)及其它电子产品， 相关业者提出一种接触式检测装置(模块)。现有的接触式检测装置如图1 所示，具有一矩形的载座10，在载座10设有多数个呈特定形式排列的通孔 101，各通孔101中植入多数个金属球20，并在通孔101上端及下端分别设 有一上导接部30及一下导接部40，上导接部30的端面镀设有金属膜301， 下导接部40的端面结合有导电胶膜401。但，这种接触式检测装置，通过 金属膜301与集成电路或其它电子产品的接点作接触，导致金属膜301容易 被磨损；而且，当金属膜301使用一段时间被磨损时，不容易实施更换及修 复，只能将整组检测装置淘汰，造成资源浪费、检验成本增加；另外，通过 多数个金属球20接通上、下导接部30、40，容易产生多个缝隙而影响导电 性，继而发生导电不良等问题，导致检测结果的信赖度不佳。

如图2所示，现有的另一种接触式检测装置，采用冲压制成的金属探针 50，并将金属探针50结合在载座10的通孔101中，使各个金属探针50上 端501突出在载座10上，下端502与检验设备(例如计算机等)连接。这 种金属探针50的上端501虽然不容易被磨损，而且可能可以被替换，但是 金属探针50的弹性系数不足或结构设计不良，反而容易磨损集成电路或其 它电子产品的接点(例如磨损用以增进导接性的镀层)，甚至于破坏集成电 路的接点。由此可见，现有应用在集成电路及其它电子产品的接触式检测装 置，存在许多亟待改进的缺陷。

因此，如何发明出一种接触式电子检验模块，可以应用在集成电路(IC) 及其它电子产品的检验程序上，以使电子检验模块的导接端子达到可以防止 被磨损、可以抽取替换、能保护集成电路及其它电子产品的接点、以及增进 导电性的效果，现有技术中尚未提出有效的解决方案。

发明内容

有鉴于上述现有技术的缺陷，本发明提供一种接触式电子检验模块，以 期达到导接端子可以防止被磨损、导接端子可以抽取替换、保护集成电路及 其它电子产品的接点、以及增进导电性的目的。

本发明的主要目的在提供一种接触式电子检验模块，其借着承载座及多 数个导接端子的结构设计，致使其导接端子具有优良的弹性系数，可以与集 成电路(IC)及其它电子产品的接点作接触，并具有可与承载座分离的卡合 结构，进而达到导接端子可以防止被磨损、导接端子可以抽取替换、保护集 成电路及其它电子产品的接点、以及增进导电性的目的。

为达上述目的，本发明接触式电子检验模块的实施内容包含有：一承载 座，该承载座上设有多数个端子孔；及多数个分别结合在端子孔中的导接端 子，该导接端子的二端分别露出在承载座的上、下面，其中：该导接端子包 含一弹性柱，及一条或一条以上埋设在弹性柱中央的导电丝，该导电丝包含 中间的一段弹性部及二端的导接部，并使二端的导接部露出在弹性柱的二 端。

上述该导接端子的导电丝的弹性部为螺旋状结构，该导接部分别弯折在 弹性柱二端的片体；又，该导接端子的弹性柱为硅酮(Silicone)基质或高 分子聚合物所构成；该导接端子的弹性柱为具有一上端面、一下端面及一侧 面的柱体，该上端面露出在承载座上面，该下端面露出在承载座下面，该侧 面设有一卡合在承载座端子孔中的凸部，如此使导电丝二端的导接部分别露 出在弹性柱的上端面与下端面。另者，该承载座的端子孔靠近上端设有一往 内缩的阶级面，该弹性柱的凸部下端抵靠在阶级面上；该承载座上面可结合 有一固定组件，固定组件设有对应端子孔的通孔，使弹性柱的上端面穿过通 孔露出在固定组件上面，并使该通孔的边缘抵压在弹性柱的凸部上端；该承 载座上面设有一凹槽，使固定组件结合在凹槽中；该承载座上面可设有一定 位凸部，该固定组件设有一与定位凸部结合的定位凹部。