[发明专利]射频识别设备及其测试方法无效

专利信息
申请号: 201010000726.7 申请日: 2010-01-15
公开(公告)号: CN101930527A 公开(公告)日: 2010-12-29
发明(设计)人: 姜熙福;洪锡敬 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: G06K7/00 分类号: G06K7/00;G01R31/28
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 郭放;黄启行
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 射频 识别 设备 及其 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种射频识别(RFID)设备,包括:

标签芯片,配置用于当从该标签芯片的外部的节点接收到测试输入信号时执行测试操作,并且将测试输出信号输出到该外部节点,所述测试输出信号提供所述测试操作的结果;和

测试芯片,配置用于当从该测试芯片的外部的节点接收到地址和数据时测试所述标签芯片。

2.如权利要求1所述的射频识别(RFID)设备,其中,所述测试芯片根据时间共享机制,经单个公共测试焊盘接收地址和数据。

3.如权利要求1所述的射频识别(RFID)设备,其中,所述地址包括标签选择地址和存储地址。

4.如权利要求3所述的射频识别(RFID)设备,其中,按照预定的顺序输入所述标签选择地址、存储地址和数据。

5.如权利要求1所述的射频识别(RFID)设备,其中,所述标签芯片是按照列和行方向排列的、定义标签芯片阵列的多个标签芯片中的一个标签芯片,和

其中,所述测试芯片配置用于控制所述标签芯片阵列的测试操作。

6.如权利要求5所述的射频识别(RFID)设备,其中,所述标签芯片和测试芯片经形成在划片区域上的互连彼此连接。

7.如权利要求5所述的射频识别(RFID)设备,其中,所述测试芯片被安排在所述标签芯片阵列的中心。

8.如权利要求1所述的射频识别(RFID)设备,其中,所述标签芯片包括存储单元,所述存储单元包括非易失性铁电存储器以执行数据的读/写操作。

9.如权利要求1所述的射频识别(RFID)设备,其中,所述测试芯片进一步包括:

测试信号输出焊盘,配置用于将所述测试输出信号输出到外部部分;

电源电压施加焊盘,配置用于接收电源电压;

接地电压施加焊盘,配置用于接收地电压;和

测试信号输入焊盘,配置用于接收所述测试输入信号。

10.如权利要求1所述的射频识别(RFID)设备,其中,所述测试芯片进一步包括:

第一焊盘,配置用于接收能够控制所述数据的锁存操作的数据锁存激活信号;

第二焊盘,配置用于接收能够控制所述地址的锁存操作的地址锁存激活信号;

数据输出焊盘,所述标签芯片经该数据输出焊盘将存储单元的测试结果输出到外部节点;

第三焊盘,配置用于从外部节点接收芯片使能信号;

第四焊盘,配置用于从外部节点接收写使能信号;

第五焊盘,配置用于从外部节点接收输出使能信号;

测试输入焊盘,配置用于接收能够激活测试模式的测试操作信号;和

测试时钟输入焊盘,配置用于接收能够控制所述测试模式的操作的测试时钟信号。

11.一种射频识别(RFID)设备,包括:

具有单元阵列的存储单元,所述单元阵列被配置用于响应于内部控制信号存储数据;

测试接口单元,配置用于当激活测试激活信号时、一旦从外部节点接收到地址信息和数据,产生所述内部控制信号,执行对所述存储单元的测试操作,并且将指示所述测试操作的结果的测试输出信号输出到外部节点。

12.如权利要求11所述的射频识别(RFID)设备,进一步包括:

测试控制器,配置用于当从外部节点接收到测试操作信号和测试时钟信号时产生所述测试激活信号。

13.如权利要求12所述的射频识别(RFID)设备,其中,所述测试控制器包括:

测试输入焊盘,配置用于接收所述测试操作信号;和

测试时钟输入焊盘,配置用于接收所述测试时钟信号。

14.如权利要求11所述的射频识别(RFID)设备,进一步包括:

公共测试焊盘,配置用于根据时间共享机制,从外部节点接收所述地址信息和数据。

15.如权利要求14所述的射频识别(RFID)设备,其中,所述地址信息包括标签选择地址和存储地址。

16.如权利要求15所述的射频识别(RFID)设备,其中,按照预定的顺序输入所述标签选择地址、存储地址和数据。

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