[发明专利]光波距离测定方法和光波距离测定装置有效
| 申请号: | 200980155037.9 | 申请日: | 2009-12-25 |
| 公开(公告)号: | CN102292652A | 公开(公告)日: | 2011-12-21 |
| 发明(设计)人: | 鹿子木满;大石政裕 | 申请(专利权)人: | 株式会社拓普康 |
| 主分类号: | G01S17/10 | 分类号: | G01S17/10;G01S7/48 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 闫小龙;王忠忠 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光波 距离 测定 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及对测定对象物照射激光光线,接收来自测定对象物的反射光来进行测距的光波距离测定方法和光波距离测定装置。
背景技术
历来,有对测定对象物照射激光光线,通过光接收元件对来自测定对象物的反射光进行接收,进行距离测定的技术。
一般已知在光波距离测定中,根据来自测定对象物的反射光的大小,在距离测定结果中产生误差。这是因为当光接收量变动时,光接收元件、光接收电路的电相位特性微小地变化。为了尽量减小该相位特性的变化,在制造工序中对每个机械进行光接收电路的电调整。
图19表示在无调整条件下的光接收电路的相位特性A和调整后的相位特性B。再有,在图19中,横轴表示光量,纵轴表示相位。
在这里,相位意味着图20(A)所示的时间T1,时间T1是在发出发光定时信号,光接收元件输出光接收信号的情况下到光接收信号最初变为0为止的时间,此外时间T1是判断为光接收元件接收到光的点。
如图20(B)所示那样,当光接收量增大时,时间T2相对于图20(A)的时间T1变长ΔT,产生光接收时间的延迟(相位的偏离)。
因此,如图19所示,在无调整(相位特性A)的情况下,可知与光量变化一起,相位较大地变化。因此,在无调整的情况下,在测距结果中包含误差。
此外,在相位特性B中,作为光接收电路的调整结果,即使光接收量变动,相位也几乎不变化,在宽广的光量范围中具有稳定的相位特性。
此外,作为另一个调整方法,有在日本特开2004-264116号公报(专利文献1)中公开的方法。在日本特开2004-264116号公报(专利文献1)所示的方法中,在制造工序中,在全部光接收范围中使光接收量变化,测定在全部光接收范围中的光接收量与电相位变化的关系,使光接收量和电相位变化的关系(光接收量-相位变化信息)存储在机械内部的存储装置中,在距离测定时基于存储的(光接收量-相位变化信息)进行误差的校正。
此外,光接收元件、光接收电路的相位特性也根据使用环境、时效变化而变化。例如,由于测定装置在俄罗斯等的寒冷地区、赤道下的热带雨林等各种地域中使用,所以要求的可工作范围达到-30℃~+60℃。由于此时光接收元件、光接收电路的温度变化,所以光接收量和电相位特性的关系也变化,作为测定误差而显现出来。
因为以制造时的光接收电路的电调整不能够应对基于环境变化的误差,所以为了在环境变化的情况下测定误差也收敛在规格内的变化中,需要以在宽广的温度范围中相位变化少的高性能的电部件构成光接收电路。因此成为部件成本增大,进而制造成本增大的原因。
此外,当在制造后经过几年时间时,电子部件的劣化等导致制造时的电特性变化。在该情况下,在制造时进行的电调整、在机械内部存储的校正用的信息和实际的机械的状态渐渐地偏离,作为测定距离的误差而显现。
进而,即使进行电调整,即使存储校正用的信息,也需要为此的设备,此外调整所耗费的时间也使制造成本增加。
本发明鉴于这样的实际情况,提供一种能够省略制造工序中的光接收电路的电调整,不采用在宽广的温度范围中相位变化少的光接收电路,此外不考虑相对于时效变化的电子设备的劣化,能够进行高精度的测距的光波距离测定方法和光波距离测定装置。
专利文献1:日本特开2004-264116号公报;
专利文献2:日本特开2004-212058号公报;
专利文献3:日本特开2008-82895号公报。
发明内容
本发明涉及光波距离测定方法,朝向测定对象物照射来自光源的光,在光接收部对在该测定对象物反射的反射光进行接收,将来自所述光源的光经由内部光路作为内部光通过所述光接收部进行接收,基于该光接收部的所述反射光、所述内部光的光接收结果对到所述测定对象物的距离进行测定,其中,具有:校正信息取得步骤,基于所述内部光取得校正信息;存储步骤,对取得的所述校正信息进行存储;以及运算步骤,基于所述反射光和所述内部光根据所述校正信息取得校正值,通过该校正值和所述光接收部的所述反射光、所述内部光的光接收结果对距离进行运算。
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