[发明专利]光伏器件的薄吸收层无效
| 申请号: | 200980151499.3 | 申请日: | 2009-10-23 | 
| 公开(公告)号: | CN102257635A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 | 
| 发明(设计)人: | 伊西克·C·奇吉尔亚里;美利莎·艾契尔;哈利·艾华特;汤玛士·J·吉密特;何甘;安德瑞斯·海吉杜斯;雷格·东克 | 申请(专利权)人: | 奥塔装置公司 | 
| 主分类号: | H01L31/042 | 分类号: | H01L31/042 | 
| 代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 周靖;郑霞 | 
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 器件 吸收 | ||
1.一种光伏(PV)器件,包括:
n型掺杂层;以及
p+型掺杂层,其邻近所述n型掺杂层以形成p-n层,使得当电磁辐射被所述p-n层吸收时产生电能。
2.如权利要求1所述的PV器件,其中所述n型掺杂层与所述p+型掺杂层构成吸收层,并且所述吸收层的厚度小于800nm。
3.如权利要求1所述的PV器件,其中所述p-n层包括异质结。
4.如权利要求1所述的PV器件,其中所述n型掺杂层或所述p+型掺杂层包括III-V族半导体。
5.如权利要求4所述的PV器件,其中所述III-V族半导体是单晶体。
6.如权利要求4所述的PV器件,其中所述n型掺杂层包含n型GaAs。
7.如权利要求4所述的PV器件,其中所述p+型掺杂层包含p+型AlGaAs。
8.如权利要求7所述的PV器件,其中所述p+型掺杂层包含p+型Al0.3Ga0.7As。
9.如权利要求1所述的PV器件,还包括插在所述n型掺杂层和所述p+型掺杂层之间的中间层。
10.如权利要求9所述的PV器件,其中所述n型掺杂层包含n型GaAs,所述p+型掺杂层包含p+型AlGaAs,以及所述中间层包含n型AlGaAs。
11.如权利要求9所述的PV器件,其中所述n型掺杂层包含n型GaAs,所述p+型掺杂层包含p+型AlGaAs,以及所述中间层包含n+型AlGaAs。
12.如权利要求9所述的PV器件,其中所述n型掺杂层包含n型GaAs,所述p+型掺杂层包含p+型AlGaAs,以及所述中间层包含p+型GaAs。
13.如权利要求1所述的PV器件,还包括邻近所述n型掺杂层的窗层。
14.如权利要求13所述的PV器件,其中所述窗层包含AlGaAs。
15.如权利要求14所述的PV器件,其中所述窗层包含Al0.3Ga0.7As。
16.如权利要求13所述的PV器件,其中所述窗层具有大约5到30nm的厚度。
17.如权利要求1所述的PV器件,还包括邻近所述p+型掺杂层的界面层。
18.如权利要求17所述的PV器件,其中所述界面层包含p+型GaAs。
19.如权利要求17所述的PV器件,其中所述界面层具有大约300nm的厚度。
20.如权利要求17所述的PV器件,其中所述界面层具有1×1019cm-3的掺杂程度。
21.如权利要求1所述的PV器件,其中在所述n型掺杂层与所述p+型掺杂层之间形成的所述p-n层为偏移p-n层。
22.如权利要求1所述的PV器件,其中所述p+型掺杂层具有被精细调整的掺杂剖面,使得掺杂程度从所述p+型掺杂层的一侧到另一侧增加。
23.如权利要求1所述的PV器件,其中所述p+型掺杂层包括多个p+型掺杂层。
24.如权利要求23所述的PV器件,其中所述多个p+型掺杂层包含AlGaAs,并且所述多个p+型掺杂层的每个包含不同百分比的铝。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





