[发明专利]用于电致发光显示器的补偿后的驱动信号无效
申请号: | 200980151005.1 | 申请日: | 2009-11-04 |
公开(公告)号: | CN102257555A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 约翰·威廉·哈默;加里·帕雷特;C·I·利维 | 申请(专利权)人: | 全球OLED科技有限责任公司 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;张旭东 |
地址: | 美国弗*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 电致发光 显示器 补偿 驱动 信号 | ||
1.一种向多个电致发光(EL)子像素中的驱动晶体管提供驱动晶体管控制信号的方法,所述方法包括以下步骤:
(a)提供多个EL子像素,每个子像素包括具有第一电极、第二电极和栅极的驱动晶体管,具有第一电极和第二电极的EL发射体,以及具有第一电极、第二电极和栅极的读出晶体管;
(b)将每个读出晶体管的第一电极连接到相对应的驱动晶体管的第二电极,并连接到相对应的EL发射体的第一电极;
(c)对于每个子像素接收输入码值,所述输入码值命令从各个子像素的相应输出;
(d)选择目标子像素;
(e)向除所述目标子像素之外的每个子像素提供各输入码值,并向所述目标子像素提供增大的码值,与相对应的输入码值相比,所述增大的码值命令更高的选定的第一量的输出;
(f)在选定的延迟时间之后,测量所述目标子像素的读出晶体管的第二电极上的读出电压,以提供表示该子像素中的驱动晶体管和EL发射体的特征的状态信号;
(g)使用所述状态信号提供针对所述目标子像素的补偿后的码值;
(h)向所述目标EL子像素的驱动晶体管提供与所述补偿后的码值相对应的驱动晶体管控制信号;和
(i)重复步骤(d)到(h),依次选择所述多个子像素中的每一个作为目标子像素,以向所述多个EL子像素中的每一个的驱动晶体管提供相应的驱动晶体管控制信号。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述EL发射体是OLED发射体。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述驱动晶体管是非晶硅晶体管。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述选定的延迟时间是选定的帧时间的选定百分比,其中,所述选定的第一量是由相对应的输入码值命令的输出的百分比,并且其中,所述选定的第一量是所述选定百分比的倒数。
5.根据权利要求1所述的方法,所述方法进一步包括以下步骤:
(j)提供与所有子像素的读出晶体管的第二电极相连接的单条读出线,以提供读出电压;和
(k)对于每个EL子像素提供与相对应的读出晶体管的栅极相连接的选择线。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤(f)进一步包括提供与所述目标子像素的读出晶体管的第二电极相连接的模数转换器,并且其中,所述模数转换器用于提供老化信号。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤(f)进一步包括:
i)提供与所述目标子像素的读出晶体管的第二电极相连接的电压比较器,所述电压比较器用于提供指示所述读出电压等于或大于选定的基准电压电平的触发信号;
ii)提供测试信号发生器,所述测试信号发生器用于顺序地向所述驱动晶体管的栅极和测量控制器提供选定的测试电压序列;和
iii)提供所述测量控制器,所述测量控制器用于从所述电压比较器接收所述触发信号,并用于使用相应的测试电压来向补偿器提供老化信号。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述状态信号表示随着时间由于所述目标子像素中的驱动晶体管和EL发射体的工作而导致的该子像素中的驱动晶体管和EL发射体的特征变化。
9.根据权利要求8所述的方法,其中,步骤(f)包括:
i)提供存储器;
ii)将每个子像素的第一读出电压测量值存储在所述存储器中;
iii)将每个子像素的第二读出电压测量值存储在所述存储器中;和
iv)使用所存储的第一读出电压测量值和第二读出电压测量值来向补偿器提供所述状态信号。
10.根据权利要求1所述的方法,所述方法进一步包括选定基准状态信号电平,并且其中,步骤(g)包括使用所述基准状态信号电平来提供针对所述目标子像素的补偿后的码值。
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