[发明专利]基底处理方法、基底和用于实施该方法的处理装置无效
| 申请号: | 200980145364.6 | 申请日: | 2009-09-10 |
| 公开(公告)号: | CN102217031A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
| 发明(设计)人: | D·哈伯曼 | 申请(专利权)人: | 吉布尔.施密德有限责任公司 |
| 主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/311 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李永波;梁冰 |
| 地址: | 德国弗罗*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基底 处理 方法 用于 实施 装置 | ||
1.一种用于处理基底(13)特别是太阳能电池的方法,其中基底(13)至少在其外侧面上含有硅或者具有硅材料,其中在处理期间对基底进行多次蚀刻,其间利用水或DI水(20)进行多个清洁步骤,其特征在于,最后对基底(13)进行干燥和加热,以便尽可能地很大程度上地干燥表面并去除水,接下来利用至少含有少量臭氧的气体混合物(34)对基底(13)或基底表面进行氧化。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,用受热的气体对基底(13)进行干燥和加热。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,用于氧化的气体混合物(34)具有如下组的组分:N2、O2、O3。
4.如前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在干燥和加热的步骤期间,将基底(13)加热到至少50℃的温度,优选至少加热到100℃~150℃。
5.如前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,直接在干燥和加热的步骤之前,用DI水(20)对基底(13)再清洁一次。
6.如前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,它采用在线方式来实施。
7.根据前述权利要求中任一项的方法的用于处理太阳能电池的基底(13)或太阳能电池晶片的应用。
8.一种太阳能电池晶片(13),其特征在于,它已采用根据前述权利要求中任一项的方法被处理。
9.如权利要求8所述的太阳能电池晶片,其特征在于,它带有硅层。
10.如权利要求8所述的太阳能电池晶片,其特征在于,它由硅构成。
11.一种用于基底(13)特别是太阳能电池的处理装置,其中基底至少在其外侧面上含有硅或者具有硅材料,其中处理装置(11)具有至少一个用于基底(13)的蚀刻装置(15)和至少一个利用水或DI水(34)的清洁装置,其特征在于,至少一个干燥站(22、25)设置有加热机构(24、27),用于尽可能地很大程度上地干燥基底(13)的表面和去除水,其中在干燥站(22、25)之后设置有用于基底(13)或基底表面的氧化站(30),并引入至少含有少量臭氧的气体混合物(34)。
12.如权利要求11所述的处理装置,其特征在于,设置有两个干燥站(22、25)。
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