[发明专利]墨滴检测装置的光轴调节方法和安装方法以及光轴调节装置无效
申请号: | 200980143639.2 | 申请日: | 2009-11-02 |
公开(公告)号: | CN102202893A | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | 伊藤和正;林宏尚 | 申请(专利权)人: | 理光越岭美有限公司 |
主分类号: | B41J2/01 | 分类号: | B41J2/01 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 光轴 调节 方法 安装 以及 | ||
1.一种墨滴检测装置的光轴调节方法,该光轴调节方法进行所述墨滴检测装置的光轴调节,该墨滴检测装置设置有:发出光的发光元件;发光元件保持器,其保持该发光元件;墨滴的排出不良检测用受光元件,其接收由所述发光元件发出的光形成的光束与墨滴相遇后的散射光;受光元件保持器,其保持该排出不良检测用受光元件;以及底座部件,所述发光元件保持器和所述受光元件保持器由该受光元件保持器的受光侧保持器轴部和所述发光元件保持器的发光侧保持器轴部临时定位而分别安装在该底座部件上,
所述发光元件保持器以能够以所述发光侧保持器轴部为中心、自如地进行转动调节的方式保持在所述底座部件上,另一方面,
所述受光元件保持器以能够在与所述发光元件保持器的转动调节方向垂直的所述受光侧保持器轴部的轴方向上、自如地进行滑动调节的方式保持在所述底座部件上,
该光轴调节方法的特征在于,
所述墨滴检测装置通过所述发光侧保持器轴部和所述受光侧保持器轴部进行定位而固定在光轴调节装置上,
在进行了供电而使所述发光元件的发光开启、并使位置调节用受光元件的检测电路开启后,
使所述发光元件保持器转动,根据所述位置调节用受光元件的输出值,检测由所述发光元件发出的光形成的光束进入到设置在所述排出不良检测用受光元件侧的定位目标的情况,
将所述发光元件保持器真正固定在所述底座部件上,另一方面,
在虽然所述发光元件保持器转动、但根据所述位置调节用受光元件的输出值未检测到进入所述定位目标时,对所述受光元件保持器的高度位置进行滑动调节,之后,使所述发光元件保持器再次转动,反复进行所述受光元件保持器的高度位置调节和所述发光元件保持器的转动调节,直至所述光束进入所述定位目标。
2.根据权利要求1所述的墨滴检测装置的光轴调节方法,其特征在于,
在将所述发光元件保持器真正固定在所述底座部件上之后,
使所述排出不良检测用受光元件的检测电路开启,并且,对所述受光元件保持器的高度位置进行滑动调节,判断所述排出不良检测用受光元件的输出值是否为恰当值,
在为恰当值时,将所述受光元件保持器真正固定于所述底座部件上,另一方面,
在不是恰当值时,再次对所述受光元件保持器的高度位置进行滑动调节,并反复进行所述受光元件保持器的高度位置调节,直至所述排出不良检测用受光元件的输出值成为恰当值。
3.根据权利要求1或2所述的墨滴检测装置的光轴调节方法,其特征在于,
使用所述排出不良检测用受光元件作为所述位置调节用受光元件,在所述受光元件保持器的、通过所述排出不良检测用受光元件的中心轴的垂直面上,形成有遮光形状作为所述定位目标,其中,所述遮光形状覆盖所述排出不良检测用受光元件而阻止所述发光元件发出的光直接进入所述排出不良检测用受光元件。
4.根据权利要求1或2所述的墨滴检测装置的光轴调节方法,其特征在于,
使用所述排出不良检测用受光元件作为所述位置调节用受光元件,在所述受光元件保持器的、通过所述排出不良检测用受光元件的中心轴的垂直面上,形成有透光形状作为所述定位目标,所述透光形状使所述发光元件发出的光透过而允许该光直接进入所述排出不良检测用受光元件。
5.根据权利要求1或2所述的墨滴检测装置的光轴调节方法,其特征在于,
在所述受光元件保持器的、通过所述排出不良检测用受光元件的中心轴的垂直面上,设置有反射面而形成所述定位目标,接收由该反射面反射的来自所述发光元件的光的位置调节用受光元件独立于所述排出不良检测用受光元件而设置在所述光轴调节装置上。
6.一种墨滴检测装置的安装方法,其特征在于,
在喷墨式的记录装置主体的轴孔中分别插入发光侧和受光侧的保持器轴部而进行定位,
将通过权利要求1~5中的任一项所述的光轴调节方法进行光轴调节后的墨滴检测装置安装在所述记录装置主体上。
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