[发明专利]容器坯件的壁温的测量装置和方法有效

专利信息
申请号: 200980142847.0 申请日: 2009-09-16
公开(公告)号: CN102196892A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: E·塞蒂内尔;T·多;G·弗约莱 申请(专利权)人: 西德尔合作公司
主分类号: B29C49/78 分类号: B29C49/78;G01J5/00;B29C49/64;B29C35/08
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 余全平
地址: 法国奥克特*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 容器 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.容器坯件(3)的壁温的测量方法,其特征在于,所述测量方法在于:

-在炉具(4)中在所述坯件(3)的加热操作结束时,在移动的坯件(3)中插入温度探测器(20);

-使所述温度探测器(20)在所述移动的坯件(3)中保持一预定的时间;

-用所述的保持在所述坯件(3)中的温度探测器(20)对所述坯件(3)的内壁(12)无接触地进行温度测量;

-存储如此测得的温度或温度分布图。

2.根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于,对所述坯件(3)的内壁(12)进行唯一的温度测量。

3.根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于,在不同的高度对所述坯件(3)的内壁(12)同时进行多个温度测量。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的测量方法,其特征在于,其包括对所述坯件(3)的外壁(13)进行温度测量的附加操作,所述附加操作的温度测量与对所述内壁(12)进行的所述或每次温度测量在相同的高度处同时进行。

5.容器坯件(3)的内壁(12)的温度测量装置(14),其特征在于,其具有无接触式温度测量单元(15),所述无接触式温度测量单元可沿一回路(16)移动地安装,所述回路(16)包括与所述坯件(3)的运行迹线(17)局部重合的有效部分(18)以及与所述运行迹线(17)分开的缓冲部分(19),所述温度测量单元(15)安装成可在一备用位置和一测量位置之间移动,所述备用位置被设置在所述回路(16)的与所述坯件(3)相距隔的缓冲部分(19)中,所述测量位置被设置在所述回路(16)的有效部分(18)中,在该测量位置,所述温度测量单元(15)至少部分地插入到所述坯件(3)中,在此对所述坯件(3)的内壁(12)无接触地进行温度测量。

6.根据权利要求5所述的温度测量装置(14),其特征在于,所述温度测量单元(15)具有探测器(20),所述探测器(20)配有管形主体(22),在所述管形主体中安装有:收集所述坯件内壁(12)发出的红外辐射的收集元件(26),与所述收集元件(26)相距隔的红外传感器(24),以及用于使收集的辐射传输到所述红外传感器(24)的波导管(25)。

7.根据权利要求6所述的温度测量装置(14),其特征在于,所述探测器(20)具有探测头(23),所述探测头位于所述主体(22)之上,并且,在所述探测头中安装有所述红外传感器(24)。

8.根据权利要求6或7所述的温度测量装置(14),其特征在于,所述探测器(20)的主体(22)配有侧窗口(27);并且,所述收集元件(26)是镜子,所述镜子在所述波导管(25)的下端部面对着所述侧窗口(27)布置在所述主体(22)中,所述镜子(26)相对于所述主体(22)的主轴线(A)倾斜,以便在所述波导管(25)中成直角地反射所述红外辐射。

9.根据权利要求6至8中任一项所述的温度测量装置(14),其特征在于,所述波导管(25)由覆盖所述探测器(20)的主体(22)的内壁的反射层形成。

10.根据权利要求6至8中任一项所述的温度测量装置(14),其特征在于,所述波导管(25)是光导纤维。

11.根据权利要求5至10中任一项所述的温度测量装置(14),其特征在于,所述温度测量单元(15)具有多个分布在所述主体高度上的收集元件,多个与所述收集元件相距隔的传感器,以及多个位于所述收集元件和所述传感器之间的波导管。

12.根据权利要求5至9中任一项所述的的温度测量装置(14),其特征在于,其具有多个安装成可沿所述相同的回路(16)移动的温度测量单元(15)。

13.测量系统,其特征在于,其包括根据权利要求5至10中任一项所述的测量坯件(3)的内壁(12)的温度的测量装置(14),以及测量坯件(3)的外壁(13)的温度的测量装置(31),所述坯件(3)的外壁(13)的温度的测量装置(31)具有测量所述外壁(13)的温度的温度测量单元(32),所述温度测量单元(32)安装成可与所述测量内壁(12)的温度的温度测量单元(15)同步地移动,以便在相同的位置对坯件(3)的内、外壁(12,13)同时进行温度测量。

14.从塑料坯件(3)制造容器(2)的制造机(1),其特征在于,其具有根据权利要求5至12中任一项所述的测量装置(14)或根据权利要求13所述的测量系统。

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