[发明专利]颗粒取样系统和减小瞬态过程过度取样的方法无效

专利信息
申请号: 200980142326.5 申请日: 2009-10-20
公开(公告)号: CN102197296A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: R·R·格瑞泽;L·M·雷德林格;J·K·兰达尔 申请(专利权)人: 卡特彼勒公司
主分类号: G01N1/22 分类号: G01N1/22;G01M15/10;G01L9/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 苏娟
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 颗粒 取样 系统 减小 瞬态 过程 过度 方法
【权利要求书】:

1.一种操作废气取样系统(20)的方法,包括以下步骤:

使废气流入定位在排气管内的测试探头中;

在探头位置处的排气管和大气压之间的压差小时,不限制废气流入所述测试探头中,但是,在所述压差大时,限制废气流入所述测试探头中。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述不限制步骤和限制步骤是通过在进入所述取样系统的废气流(34)路径中的流动开口(125)被动地实现的,所述流动开口(125)在所述压差大时用作孔口,但在所述压差小时不用作孔口。

3.根据权利要求2所述的方法,包括将所述流动开口定位在进入所述测试探头的入口处的步骤;并且

基于进入所述取样系统的希望的流速设定所述流动开口(125)的尺寸。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,设定尺寸步骤包括基于预定压差设定所述流动开口(125)的尺寸;

当连接到所述排气管的废气源在瞬态状况下操作时测量最大压差;并且

将所述预定压差设定为所述最大压差。

5.根据权利要求1所述的方法,包括基于预定压差和进入所述取样系统中的希望的流速确定流动开口(125)尺寸的步骤;

将具有所述流动开口(125)尺寸的第一末端(122)附接到所述测试探头;

拆下限定第一尺寸的流动开口(125)的所述第一末端(122);并且

附接第二末端(122),其限定具有不同于所述第一尺寸的第二尺寸的流动开口(125)。

6.一种在瞬态过程中减少废气取样系统(20)对废气过度取样的方法,包括以下步骤:

当测试探头位置处的压力增大时限制废气流入所述取样系统中;并且

所述限制步骤包括将孔口定位在进入所述测试探头的流动路径中。

7.根据权利要求7所述的方法,包括在瞬态之前和瞬态过程中确定所述孔口的流通面积尺寸的步骤;

基于进入取样系统的希望的流速和与瞬态相关的预定压差设定所述流通面积尺寸。

8.一种测试用单元,包括:

功率源(10),其流体连接到排出管线(58);

废气取样系统(20),其具有测试探头,所述测试探头具有定位在所述排气管线(58)中用于接收源自所述功率源(10)的废气流(34)的流动开口(125);

所述流动开口(125)具有基于进入所述废气取样系统(20)的希望的流速和与所述功率源(10)的瞬态操作状况相关的压差大小的流通面积尺寸。

9.根据权利要求8所述的测试用单元,其中,所述测试探头包括可拆卸末端(122),其限定所述流动开口(125);

多个可更换末端,其中每个可更换末端限定具有不同流通面积尺寸的流动开口(125)。

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