[发明专利]确定用于高动态范围图像的光的空间调制的减小分辨率的背光仿真

权利要求书

1.一种生成图像的方法，所述方法包括：

对于一数量的第一采样求取像素特性值的倒数以建立求倒后的像素特性值；

对求倒后的像素特性值进行上采样，以确定上采样的像素特性值；和

通过上采样的像素特性值缩放一数量的第二采样的像素数据，以控制调制器生成图像，

其中，第一采样的数量比第二采样的数量少。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，求取像素特性值的倒数包括：

求取像素特性预测值的倒数，

其中，所述像素特性预测值与背光模型相关联。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述像素特性包括亮度。

4.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

按照从与背光相关联的光源到不存在光源的参考点的距离的函数缩放像素特性值；

其中：

对求倒后的像素特性值进行上采样进一步包括：对所述一数量的第一采样的求倒后的像素特性值进行内插，以形成用于所述一数量的第二采样的上采样的像素特性值；和

缩放像素特性值包括以下步骤中的一个：相对于像素特性峰值增大像素特性值；将像素特性值除以像素特性的断面值。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，求取像素特性值的倒数包括以下步骤中的一个：

求取与一组像素相关联的像素特性值中的每一个的倒数，以建立求倒后的像素特性值；

执行非线性除法运算以产生求倒后的像素特性值的有限值；和

确定像素特性值是否与像素特性值范围相关联，如果像素特性值与第一范围相关联，则将1除以像素特性值，以建立求倒后的像素特性值，以及，如果像素特性值与第二范围相关联，则为求倒后的像素特性值分配有限值。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，求取像素特性值的倒数包括：

执行多次非线性除法运算以产生求倒后的像素特性值的有限值，

其中，所述非线性除法运算的次数基本上与第一采样的数量相当。

7.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

调整求倒后的像素特性值以修改经由调制器透射的光的量，包括：基于被配置为将光投射到调制器上的光源的操作特性确定缩放因子，并按照缩放因子缩放求倒后的像素特性值。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，访问背光模型包括：

检测被配置为对光源进行调制的驱动电平，以形成检测的驱动电平；和

基于对于第一采样的检测的驱动电平预测像素特性值，以将所预测的值建立为用于生成背光模型的像素特性值，

其中，所述光源的数量比第一采样的数量少。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，预测像素特性值包括：

通过将点扩散函数应用于检测的驱动电平的幅度以形成像素特性预测值来对检测的驱动电平的幅度进行滤波，以形成与所述光源相关联的像素组的像素特性预测值。

10.一种设备，包括：

储存库，所述储存库包括：

数据结构，所述数据结构被配置为布置表示一数量的采样的亮度预测值的数据，所述采样的数量比光源的数量在量上更大；

存储器，所述存储器包括：

求倒器模块、上采样器模块和像素缩放器模块；和

处理器，所述处理器被配置为：

访问所述数据结构以取出表示亮度预测值的数据，

响应于求倒器模块中的可执行指令求取亮度预测值的倒数，以建立基本上相当于采样数量的量的求倒后的亮度值，

响应于上采样器模块中的可执行指令对求倒后的亮度值进行上采样，以生成基本上相当于像素数量的量的上采样的亮度值，以及

响应于像素缩放器模块中的可执行指令通过上采样的亮度值缩放像素数据，以形成用于控制前调制器生成图像的调制信号。

11.根据权利要求10所述的设备，进一步包括：

边缘亮度增强模块，所述处理器被进一步配置为响应于边缘亮度增强模块中的可执行指令生成用于求倒后的亮度值之一的边缘增强值，所述边缘亮度增强模块确定与边缘增强值相关联的采样的位置距参考点一距离，

其中，所述参考点基本上与显示装置的边缘一致。