[发明专利]溶质的浓缩和定位装置以及用于浓缩和定位溶质的方法无效
| 申请号: | 200980134030.9 | 申请日: | 2009-08-28 |
| 公开(公告)号: | CN102292158A | 公开(公告)日: | 2011-12-21 |
| 发明(设计)人: | E·M·迪发布里滋奥;G·库达;F·梅卡里尼;F·德安格利斯;F·根蒂勒 | 申请(专利权)人: | 卡尔梅德有限公司 |
| 主分类号: | B01L3/00 | 分类号: | B01L3/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 赵华伟 |
| 地址: | 意大利*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 溶质 浓缩 定位 装置 以及 用于 方法 | ||
1.一种溶质的浓缩和定位装置(1),所述装置(1)包括:
-基底(2);
-多个棱柱状的刻蚀微结构(4),所述多个棱柱状的刻蚀微结构(4)从所述基底(2)垂直升起,并且以周期性的方式彼此间隔开,使得该基底(2)具有超疏水性。
2.根据权利要求1所述的装置,其中所述微结构(4)具有各自的顶部(8),所述装置在各顶部(8)包括设置纳米结构,所述纳米结构布置成使得所述顶部(8)的所述表面不平坦。
3.根据权利要求2所述的装置,其中所述纳米结构包括波纹状的连续膜。
4.根据权利要求2所述的装置,其中所述纳米结构包括多个垂直地放置到所述顶部(8)的所述表面上的纳米柱体。
5.根据权利要求2所述的装置,其中所述纳米结构包括多个纳米球体。
6.根据权利要求2至5中任一项所述的装置,其中所述纳米结构在顶部(8)具有周期性的构造。
7.根据在前的权利要求中的任一项所述的装置,其中所述刻蚀微结构(4)具有平行六面体的形状。
8.根据在前的权利要求中的任一项所述的装置,其中所述刻蚀微结构(4)彼此间隔开范围为20-50μm的距离(6)。
9.一种用于获得溶质的浓缩和定位装置的方法,包括步骤:
-在基底(2)上获得从所述基底(2)垂直地升起的多个棱柱状的刻蚀微结构(4),所述多个棱柱状的刻蚀微结构(4)以周期的方式彼此间隔开,使得所述基底(2)具有超疏水性;
-在各刻蚀微结构(4)的顶部(8)上获得纳米结构,所述纳米结构布置成使得所述顶部(8)的所述表面不平坦。
10.根据权利要求9所述的方法,其中获得纳米结构的步骤包括步骤:
-对贵金属进行化学沉积;
-置放预定材料的多个单层。
11.根据权利要求9所述的方法,其中所述获得纳米结构的步骤包括步骤:
-以配合的方式进行高分辨率的电子束刻蚀和贵金属的化学沉积;
-置放预定材料的多个单层。
12.一种用于浓缩和定位溶质的方法,包括步骤:
-提供用于根据权利要求1到8中的任一项所述的溶质的浓缩和定位装置(1);
a)在所述装置上置放(50)包含待浓缩和定位的溶质的一滴溶液;
b)等待(55)一段预定的时间间隔使得所述液滴部分地蒸发从而减少它的体积并且增加所述溶质的浓度;
c)重复步骤b)直到所述液滴达到占据所述装置(1)上的预定区域(10)的最小的预定体积。
13.根据权利要求12所述的方法,其中所述装置(1)包括所述纳米结构,所述方法包括步骤:
-用具有预定电场的入射光束照射所述区域(10);
-获取经过所述区域(10)反射的光,由于所述纳米结构的存在,所述反射光的电场大于所述入射光的所述电场;
-通过所述反射光的光谱分析揭示存在于所述溶液内部的所述溶质。
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