[发明专利]显示装置无效
申请号: | 200980131618.9 | 申请日: | 2009-06-09 |
公开(公告)号: | CN102119408A | 公开(公告)日: | 2011-07-06 |
发明(设计)人: | 白木一郎;前田和宏;杉山裕昭 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张鑫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 | ||
1.一种显示装置,其特征在于,
包括子像素块,该子像素块在多个子像素配置成矩阵状的显示区域中,内置有具有光电传感器的光电传感器电路,所述光电传感器将由相同子像素行上的预定数量的子像素构成的区域中对应于照射光强度的检测信号输出,
设置一个以上由第一子像素块群和第二子像素块群成对构成的子像素块群对,所述第一子像素块群是包括设置于一个子像素行上的多个所述子像素块,所述第二子像素块群包括设置于与包括所述第一子像素块群的子像素行不同的一个子像素行上的多个所述子像素块,
在各所述子像素块群对中,所述第一子像素块群和所述第二子像素块群形成对,使得能同时驱动所述第一子像素块群和所述第二子像素块群,并能同时取出所述第一子像素块群的所述检测信号和所述第二子像素块群的所述检测信号。
2.如权利要求1所述的显示装置,其特征在于,
作为所述子像素块,包括:第一子像素块和第二子像素块这两种检测子像素块,所述第一子像素块内置有具有光电传感器的光电传感器电路即光检测电路,所述光电传感器将包括第一预定数量的子像素的区域中对应于照射光强度的光检测信号作为所述检测信号输出,所述第二子像素块内置有光电传感器电路即暗电流检测电路,所述光电传感器电路将包括第二预定数量的子像素的区域中所述光电传感器的暗电流检测信号作为所述检测信号输出,
所述检测子像素块的所述检测信号通过输出线取出,所述输出线通过沿列方向排列的多个所述检测子像素块,
包括光强度检测单元,该光强度检测单元对通过所述输出线取出的所述检测子像素块的所述检测信号进行检测,检测所述照射光的强度,
各所述子像素块群对包括所述第一子像素块和所述第二子像素块这两者,
包括传感器行驱动器,该传感器行驱动器对各所述子像素块群对依次输出读出信号,该读出信号是同时进行各所述第一子像素块的所述光检测信号的输出和各所述第二子像素块的所述暗电流检测信号的输出的读出信号,
在各所述子像素块群对中,所述检测子像素块的各所述检测信号的输出与相互不同的所述输出线相连接。
3.如权利要求2所述的显示装置,其特征在于,
在所述显示区域中,所述检测子像素块以沿行方向及列方向相互不相邻的方式进行配置。
4.如权利要求2或3所述的显示装置,其特征在于,
在所述子像素块群对中,所述第一子像素块和所述第二子像素块在对角方向上相邻。
5.如权利要求2至4的任一项所述的显示装置,其特征在于,
所述第一预定数量和所述第二预定数量相互相等。
6.如权利要求5所述的显示装置,其特征在于,
所述第一预定数量的子像素和所述第二预定数量的子像素分别为RGB这三个子像素。
7.如权利要求2至6的任一项所述的显示装置,其特征在于,
所述输出线是与所述检测子像素块所包括的子像素的一个相连接的数据信号线。
8.如权利要求7所述的显示装置,其特征在于,
所述检测子像素块包括多个子像素,与所述检测子像素块所包括的子像素的另一个相连接的数据信号线用于进行所述检测子像素块的所述检测信号的输出用的电源线。
9.如权利要求2至8的任一项所述的显示装置,其特征在于,
所述传感器行驱动器包括第一移位寄存器,该第一移位寄存器向各所述子像素块群对依次输出所述读出信号。
10.如权利要求9所述的显示装置,其特征在于,
所述第一移位寄存器根据各移位寄存器级的输出,使相应的开关成为导通状态,从而通过所述开关对各所述子像素块群对依次输出所述读出信号。
11.如权利要求9或10所述的显示装置,其特征在于,
所述传感器行驱动器包括第二移位寄存器,该第二移位寄存器对各所述子像素块群对依次输出进行所述检测子像素块的检测动作的初始化的复位信号。
12.如权利要求11所述的显示装置,其特征在于,
所述第二移位寄存器根据各移位寄存器级的输出,使相应的开关成为导通状态,从而通过所述开关对各所述子像素块群对依次输出所述复位信号。
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