[发明专利]通过纤维光学的测量方法在结晶器中的铸造液面测量有效
| 申请号: | 200980131146.7 | 申请日: | 2009-07-30 |
| 公开(公告)号: | CN102112253A | 公开(公告)日: | 2011-06-29 |
| 发明(设计)人: | M·阿茨贝格尔;D·利夫图赫特;U·普洛齐尼克 | 申请(专利权)人: | SMS西马格股份公司 |
| 主分类号: | B22D2/00 | 分类号: | B22D2/00;B22D11/18;B22D11/20;G01F23/22;G01F23/292;G01K11/32 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 严志军;梁冰 |
| 地址: | 德国杜*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 通过 纤维光学 测量方法 结晶器 中的 铸造 液面 测量 | ||
1.一种用于在用于金属铸造的结晶器中进行铸造液面测量的方法,其中,为了确定铸造液面的高度,在结晶器的高度上获取在铸造液面的区域中的温度分布,其特征在于,借助于一个或多个测量纤维和/或至少一个测量探测器实现温度获取,所述测量探测器装配到结晶器铜板中并且包括纤维光学的传感器,其中,借助于评估装置从获取的温度分布中确定铸造液面的高度。
2.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,为了在结晶器的下端部的区域中调节铸造过程,布置有至少另一用于获取温度的测量探测器,所述另一测量探测器包括纤维光学的传感器和/或热电偶。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在宽度方向上,垂直于铸造方向布置有至少两个测量探测器,以使得在宽度方向上可至少在两个测量部位处确定铸造液面高度,从而获得关于铸造液面波的形状的信息。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,使用纤维布拉格光栅方法或光学时域反射方法或光学频域反射方法以用于评估。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,将所述评估装置的数据传输到调节系统处,所述调节系统可控制在所述结晶器中的铸造液面高度。
6.一种用于在铸造液面的区域中通过在用于金属铸造的结晶器中获取温度来确定铸造液面的高度的探测器,其特征在于,所述探测器设有至少一个光波导,并且可安装到所述结晶器的铜板中。
7.根据权利要求6所述的探测器,其特征在于,所述探测器可装配在所述结晶器铜板的背离熔液的侧边上的槽中。
8.根据权利要求7所述的探测器,其特征在于,在所述探测器的在铸造液面的方向上接触所述铜板的部分中设置有多个平行的槽,所述槽垂直于铸造液面伸延,并且在所述槽中分别布置有至少一个光波导。
9.根据权利要求8所述的探测器,其特征在于,在每个槽中布置至少一个光波导,并且,所述光波导以根据长度错位的方式布置在槽中。
10.根据权利要求6所述的探测器,其特征在于,所述探测器基本上具有圆柱体的形状,并且,所述至少一个光波导螺旋形地围绕所述圆柱体缠绕,并且所述探测器可插入到所述结晶器铜板中的孔中。
11.根据权利要求10所述的探测器,其特征在于,多个光波导螺旋形地围绕所述圆柱体缠绕,并且所述光波导分别在分立的相继的区域中缠绕在所述圆柱体上。
12.根据权利要求6所述的探测器,其特征在于,所述探测器具有板件的形状,所述板件可布置在所述结晶器铜板的背离熔液的侧边上,或可布置在所述结晶器铜板中的槽口中,其中,所述至少一个光波导布置在所述探测器的接触所述结晶器铜板的侧边上。
13.根据权利要求12所述的探测器,其特征在于,所述至少一个光波导曲折形地和/或螺旋形地布置在所述板件上。
14.根据权利要求12或13所述的探测器,其特征在于,所述至少一个光波导在所述探测器上布置在槽中。
15.根据权利要求6所述的探测器,其特征在于,所述探测器由所述至少一个光波导形成,所述光波导可直接地布置在所述结晶器铜板中的至少一个孔中。
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