[发明专利]用于自动测试仪器的跟踪器电路和方法

说明书

技术领域

本发明涉及自动测试领域，更具体低，涉及一种用于自动测试仪器的跟踪器电路和方法。

背景技术

自动测试仪器系统用于测试集成电路设备或IC。该测试涉及带有依时性数据的功能性测试。自动测试仪器系统(还称为“ATE测试器”)通常包括连接至控制计算器的测试电路。控制计算器提供用户界面，用于接收和存储功能性的测试式样和时序数据(称为“测试向量”)，从而使测试电路能够将激励信号提供给待测设备(device-under-text)或DUT。其还包括接收和估计DUT响应输出信号。对DUT输出信号进行估计从而确定DUT的参数和运算特性。存储的式样功能性测试在集成电路设备生产过程中能够提供一个严格的步骤，以提供设备的参数和运算特性。

本发明的发明人意识到，这种测试是否有效取决于测试器和DUT是否能够精确同步。这是因为，当时钟速度增加至千兆赫及以上时，测试是否有效就更加依赖于精确的时钟同步。高频时，不精确的时钟和数据同步很容易就会产生错误的测试结果，这是因为错误的容限随着待测设备的工作速度的增加而减小。如下文所述，这种情况可能发生，是因为数据转换时间或“抖动频带(jitter band)”在数据信号中具有更大的百分比，因此从根源上增加了错误测试结果。

目前需要一种装置和/或方法，用于确保正确检测到响应数据信号。因此，本发明的发明人确定，我们需要一种手段，将测试器时钟信号与进入的DUT响应数据信号进行同步，以使响应数据信号的检测远离抖动频带。

发明内容

在一个实施例中，一种数字数据信号捕获电路用于对收到的数字数据信号进行同步，包括转换检测器。转换检测器具有数字数据信号采样器和早/晚转换检测器。数字数据信号采样器在第一时刻、第二时刻、和第三时刻采样并保持收到的数字数据信号。早/晚转换检测器与数字数据信号采样器相通信，早/晚转换检测器被配置为在第一时刻、第二时刻、和第三时刻接收所收到的数字数据信号的采样，并根据所收到的采样确定在第一时刻和第二时刻之间是否发生状态转换，在第一时刻和第三时刻之间是否发生状态转换，并基于状态转换的时刻位置生成表示转换位置的递增/递减信号。选通脉冲调节电路连接至转换检测器，以接收递增/递减信号。根据递增/递减信号，选通脉冲调节电路基于转换的位置表示生成选通脉冲信号。数字数据信号捕获电路包括电路，被连接为接收数字数据信号，并被连接为与选通脉冲调节电路相通信，以接收选通脉冲信号，从而在选通脉冲信号的定时处捕获所收到的数字数据信号。

数字数据信号采样器包括第一跟踪触发器、第二跟踪触发器、和第三跟踪触发器。第一跟踪触发器用于在第一时刻和第三时刻捕获和保持所收到的数字数据信号。第二跟踪触发器用于在第二时刻捕获和保持所收到的数字数据信号。第三跟踪触发器与第一跟踪触发器相通信，用于接收在第一时刻捕获的所收到的数字数据信号，用于进行存储，直至第三时刻。

数字数据信号采样器还包括时钟发生器，用于生成第一定时信号和第二定时信号。第一定时信号与第二定时信号具有约90°的相位差。时钟发生器被连接为在第一时刻和第三时刻将第一定时信号提供至第一跟踪触发器，以捕获和保持所收到的数字数据信号。时钟发生器被连接为将第一定时信号提供至第三触发器，以接收在第一时刻捕获的所收到的数字数据信号，用于进行存储，直至第三时刻。时钟发生器被连接为在第二时刻将第二定时信号提供至第二触发器，以捕获和保持在第二时刻所收到的数字数据信号。

早/晚转换检测器包括第一比较电路，与第一触发器和第三触发器相通信，以生成转换发生信号，表示在第一时刻和第三时刻之间发生转换，从而生成递减转换信号。早/晚转换检测器还包括第二比较电路，与第二触发器和第三触发器相通信，以表示在第一时刻和第三时刻之间发生转换。

选通脉冲调节电路包括持久性上/下计数器、数模转换器、和可变延时元件。持久性上/下计数器经或树与转换检测器相通信，以接收递增/递减信号，并被配置为递增持久性上/下计数器，以便调节选通脉冲数字值信号。数模转换器与持久性上/下计数器相通信。持久性上/下计数器可以是可编程的多比特计数器，被调节为限制所收到的数字数据信号的重复率。可变延时元件与数模转换器相通信，用于基于数模转换器的输出调节主振荡器选通脉冲信号，以生成选通脉冲信号。可变延时元件将选通脉冲信号提供至捕获电路，用于捕获所收到的数字数据信号。

数字数据信号捕获电路还包括：或树形电路，其与转换检测器相通信。或树形电路在所收到的数字数据信号的每个周期中的预定数量的时钟周期内接收递增/递减转换信号，以确保数字数据信号捕获电路不震荡，并且不会不稳定。