[发明专利]数据测量方法和系统

权利要求书

1.一种在包括阻抗调谐器的测试装置中测量用于噪声参数的数据的方法，包括：

(i)将调谐器状态设置为一组调谐器状态中的一个；

(ii)将扫描参数设置为一组多个扫描参数值中的一个值；

(iii)在所述调谐器状态和扫描参数值下测量数据；

(iv)针对所述一组多个扫描参数值中的不同扫描参数值重复步骤(ii)和(iii)，直至已针对所述组中的所有扫描参数值测量了数据；

(v)将所述调谐器状态变为所述调谐器状态组中的另一所述调谐器状态；

(vi)重复步骤(ii)、(iii)、(iv)和(v)，直至已针对所述调谐器状态组中的每个所述调谐器状态测量了数据，

其中每次针对一个调谐器状态根据所述参数值组的扫描参数来测量数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述扫描参数是频率。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述扫描参数是施加于被测设备的偏置。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述阻抗调谐器是机械调谐器，且所述调谐器状态组中的每个调谐器状态对应于所述机械调谐器的一个机械设置。

5.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

选择所述调谐器状态组以改变反射量级和相位，以在每个扫描参数值下产生阻抗组，使得对应于所述不同调谐器状态的反射量级和相位位置在每一个扫描参数值下在阻抗平面内是分离的。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述阻抗调谐器是具有失配探头和调谐器中心导体的机械滑动螺旋式调谐器，且所述调谐器状态包括调谐器状态组，其中所述失配探头位于距离所述中心导体的不同距离处，每组具有不同的阻抗量级。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述扫描参数是频率，且每个所述调谐器状态组针对失配探头的近似中心频率而在探头位置选择，以产生在失配探头的工作频带上的点的令人满意的反射系数量级分布。

8.根据权利要求5所述的方法，其中所述调谐器是固态调谐器，其使用多个固态控制元件，且其中第一控制参数值主要用于量级控制，而第二控制参数值主要用于相位控制。

9.根据权利要求8所述的方法，其中所述第一控制参数是一个控制元件的电流驱动，而所述第二控制参数是关于应驱动所述多个固态控制元件中的哪个固态控制元件的选择。

10.根据权利要求8所述的方法，其中所述控制元件的部分由耦合器连接。

11.根据权利要求5所述的方法，其中针对非均匀的相位步进选择所述调谐器状态。

12.根据权利要求11所述的方法，其中使用机械滑动螺旋式调谐器实施该方法，且使用对数间隔选择滑架位置。

13.根据权利要求5所述的方法，其中所述调谐器包括用于以一定独立度改变反射量级和相位的装置，所述用于改变的装置具有根据所述调谐器状态的特定响应，所述选择步骤包括：

测量用于改变的量级装置根据所述调谐器状态的响应；

根据调谐器状态使用所述经测量的响应，以选择提供期望的点分布的量级控制值。

14.根据权利要求1所述的方法，其中针对非均匀的相位步进选择所述调谐器状态。

15.根据权利要求14所述的方法，其中所述相位步进间隔中的非均匀性随频率带宽而改变。

16.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试设置包括噪声接收器或分析器，并且收集所述用于噪声参数的数据，用于校准或测量所述噪声接收器或分析器的参数。

17.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试设置进一步包括噪声接收器或分析器，所述方法进一步包括：

使用所述经测量数据来确定被测设备的噪声参数。

18.一种自动测试设置，其中通过应用软件实施根据权利要求1-17中任意项的方法。