[发明专利]用于CT应用中的Gd2O2S材料有效
| 申请号： | 200980128751.9 | 申请日： | 2009-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN102105557A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | C·R·龙达;G·蔡特勒;H·施赖讷马赫尔;N·康拉茨;D·U·维歇特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | C09K11/77 | 分类号： | C09K11/77;G21K4/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 柴丽敏;于辉 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 ct 应用 中的 gd sub 材料 | ||
【权利要求书】：
1.Gd2O2S:Nd荧光材料。
2.如权利要求1所述的Gd2O2S:Nd荧光材料，其中，Nd3+的浓度为≥10和≤2000重量ppm。
3.如权利要求1或2所述的Gd2O2S:Nd荧光材料，其中，所述Gd2O2S:Nd材料是陶瓷材料。
4.Nd的用途，其在一种或多种如下材料中用作发射体：Gd2O2S、(Y，Gd)2O3、Lu3Al5O12、Y3Al5O12、Lu3Ga5O12。
5.如权利要求4所述的用途，其中，Nd3+的浓度为≥10和≤2000重量ppm。
6.如权利要求4或5所述的用途，其中，基质材料是陶瓷材料。
7.用于检测电离辐射的检测器，所述检测器包括如权利要求1-6任一项所述的荧光材料，其中，所述检测器优选是X-射线检测器、CT-检测器或电子射野影像检测器。
8.如权利要求7所述的检测器的用途，其用于适于医学成像的装置中，其中，所述检测器优选是X-射线检测器、CT-检测器或电子射野影像检测器。
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