[发明专利]沉积膜形成装置及沉积膜形成方法无效
| 申请号: | 200980128302.4 | 申请日: | 2009-07-29 |
| 公开(公告)号: | CN102099505A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
| 发明(设计)人: | 新乐浩一郎;伊藤宪和;稻叶真一郎;松居宏史 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
| 主分类号: | C23C16/50 | 分类号: | C23C16/50;C23C16/455;H01L21/205;H01L31/04 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 朱丹 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 沉积 形成 装置 方法 | ||
1.一种沉积膜形成装置,具有:
腔室;
第一电极,其位于所述腔室内;以及
第二电极,其按照与所述第一电极隔开规定间隔的方式位于所述腔室内,并且具备供给第一原料气体且产生空心阴极放电的第一供给部、和供给分解速度比所述第一原料气体大的第二原料气体的第二供给部。
2.如权利要求1所述的沉积膜形成装置,其中,
所述第二供给部不产生空心阴极放电、或者空心阴极放电产生的程度比所述第一供给部的小。
3.如权利要求1或2所述的沉积膜形成装置,其中,
所述第一供给部具有:产生所述空心阴极放电的空心部。
4.如权利要求3所述的沉积膜形成装置,其中,
所述第一供给部的所述空心部,随着远离所述第一电极而截面积减小。
5.如权利要求1~4中任一项所述的沉积膜形成装置,其中,
所述第二电极具有多个所述第一供给部,
相邻的两个所述第一供给部彼此间的距离,比所述第二电极与基材的距离更短,该基材位于所述第一电极与所述第二电极之间。
6.如权利要求1~5中任一项所述的沉积膜形成装置,其中,
所述第一原料气体包含非Si系气体,所述第二原料气体包含Si系气体。
7.如权利要求6所述的沉积膜形成装置,其中,
所述非Si系气体包含氢气。
8.如权利要求7所述的沉积膜形成装置,其中,
所述非Si系气体还包含甲烷气体。
9.如权利要求1~8中任一项所述的沉积膜形成装置,其中,
在向所述第一供给部导入第一原料气体的导入路径中,具有加热催化剂体。
10.一种沉积膜形成方法,具有以下工序:
准备第一电极、与所述第一电极隔开规定间隔设置且具有第一供给部及第二供给部的第二电极、基材的工序;
在所述第一电极和所述第二电极之间配置所述基材的工序;
在位于所述第一供给部的内部的第一空间产生空心阴极放电的工序;
向所述第一空间供给第一原料气体的工序;
使所述第一原料气体在所述第一空间活化的工序;
将所活化的所述第一原料气体从所述第一空间向所述基材侧供给的工序;
在位于所述第一电极和所述第二电极之间的第二空间产生辉光放电的工序;
将分解速度比所述第一原料气体大的第二原料气体从所述第二供给部向所述基材侧供给的工序;
使所述第二原料气体在所述第二空间活化的工序。
11.如权利要求10所述的沉积膜形成方法,其中,
还具有:使所述第二原料气体和所活化的所述第一原料气体在所述第二空间混合的工序。
12.如权利要求10或11所述的沉积膜形成方法,其中,
仅从所述第二供给部供给所述第二原料气体。
13.如权利要求10~12中任一项所述的沉积膜形成方法,其中,
仅从所述第一供给部供给所述第一原料气体。
14.如权利要求10~13中任一项所述的沉积膜形成方法,其中,
还具有:使所述第一原料气体在所述第二空间活化的工序。
15.如权利要求10~14中任一项所述的沉积膜形成方法,其中,
还具有以下工序:
在向所述第一供给部导入所述第一原料气体的导入路径中准备加热催化剂体的工序;
对所述加热催化剂体进行加热的工序;
经由所述加热催化剂体使所述第一原料气体活化的工序。
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的





