[发明专利]膜淀积方法无效
申请号: | 200980124509.4 | 申请日: | 2009-06-25 |
公开(公告)号: | CN102077319A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
发明(设计)人: | 桥本信;田边达也 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C23C16/02 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 孙志湧;穆德骏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 膜淀积 方法 | ||
1.一种在衬底(10、11)的一个主表面上淀积薄膜(22、52、21、42、23、46、26、25、81、82)的膜淀积方法,包括如下的步骤:
制备衬底(10、11);
相对于沿着所述一个主表面的方向弯曲所述衬底(10、11);以及
在所述衬底(10、11)弯曲的情况下,在所述衬底(10、11)的所述一个主表面上淀积薄膜(22、52、21、42、23、46、26、25、81、82)。
2.根据权利要求1所述的膜淀积方法,还包括如下的步骤:
在弯曲所述衬底(10、11)的所述步骤中,相对于沿着所述一个主表面的方向,在弯曲所述衬底(10、11)的所述步骤中已被弯曲的所述衬底(10、11)的方向的相反方向上弯曲所述衬底(10、11),以及
在所述衬底(10、11)沿所述相反方向弯曲的情况下,在所述衬底(10、11)的所述一个主表面上淀积薄膜(22、52、21、42、23、46、26、25)。
3.根据权利要求1所述的膜淀积方法,其中,
在弯曲所述衬底(10、11)的所述步骤中,根据第一晶格常数和第二晶格常数,相对于沿着所述一个主表面的方向来弯曲所述衬底(10、11),所述第一晶格常数是构成要被淀积的所述薄膜(22、52、21、42、23、46、26、25)的材料的晶格常数,所述第二晶格常数是构成所述衬底(10、11)的要在上面淀积所述薄膜(22、52、21、42、23、46、26、25)的所述一个主表面的材料的晶格常数。
4.根据权利要求3所述的膜淀积方法,其中,
在弯曲所述衬底(10、11)的所述步骤中,当所述第一晶格常数大于所述第二晶格常数时,相对于执行弯曲所述衬底(10、11)的步骤之前的形状,在向着所述一个主表面突出的方向上弯曲所述衬底(10、11),以及,当所述第一晶格常数小于所述第二晶格常数时,相对于执行弯曲所述衬底(10、11)的步骤之前的形状,在向着所述一个主表面凹陷的方向上弯曲所述衬底(10、11)。
5.根据权利要求3所述的膜淀积方法,其中,
在弯曲所述衬底(10、11)的所述步骤中,当所述第一晶格常数大于所述第二晶格常数时,所述衬底(10、11)被弯曲成向着所述一个主表面突出的形状,以及,当所述第一晶格常数小于所述第二晶格常数时,所述衬底(10、11)被弯曲成向着所述一个主表面凹陷的形状。
6.根据权利要求1所述的膜淀积方法,其中,
在弯曲所述衬底(10、11)的所述步骤中,通过独立地控制第一加热构件(7)和第二加热构件(2)的加热温度来弯曲所述衬底(10、11),所述第一加热构件(7)被设置成面对所述衬底(10、11)的所述一个主表面,所述第二加热构件(2)被设置成面对所述衬底(10、11)的与所述一个主表面相反的另一个主表面。
7.根据权利要求1所述的膜淀积方法,其中,
在制备所述衬底(10、11)的所述步骤中,制备具有彼此堆叠的多个层的衬底(10、11),所述多个层由具有不同的热膨胀系数的材料制成。
8.根据权利要求1所述的膜淀积方法,其中,
在淀积所述薄膜(22、52、21、42、23、46、26、25、81、82)的所述步骤中,把将构成要被淀积的所述薄膜(22、52、21、42、23、46、26、25、81、82)的成分的源气体供给到已加热的所述衬底(10、11)的所述一个主表面之上。
9.根据权利要求8所述的膜淀积方法,其中,
所述源气体包括金属有机化合物蒸气。
10.根据权利要求8所述的膜淀积方法,其中,
所述源气体包括III族元素化合物蒸气。
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