[发明专利]RF校准装置和方法

权利要求书

1.一种测量装置，该测量装置被配置成能够经由至少一个RF端口连接而连接至分析器单元，该测量装置包括至少一个测量单元和至少一个校准和控制单元，所述至少一个校准和控制单元连接至所述至少一个测量单元并与所述至少一个测量单元集成在一起，所述校准和控制单元被配置为使得所述至少一个测量单元中的每一个都能够经由至少一个RF连接器而连接到所述分析器单元，所述校准和控制单元包括分别与具有已知RF反射系数的多个校准负载相关联的多个端子，并且包括存储器装置，该存储器装置包含指示所述RF反射系数的记录数据和指示所述校准和控制单元的RF传输系数的记录数据，从而使得在所述至少一个测量单元保持与所述校准和控制单元集成在一起的同时能够计算所述至少一个测量单元中的每一个的RF响应。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述校准和控制单元包括控制器装置和至少一个可控操作开关，该可控操作开关使得能够选择性地将所述多个端子中的每一个和所述至少一个测量单元中的每一个连接至所述分析器单元的网络分析器。

3.根据权利要求1或2所述的装置，该装置包括至少两个测量单元，各个测量单元都经由一个或更多个RF连接器而连接至所述校准和控制单元。

4.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述校准和控制单元被包含在具有RF罩的壳体中，所述壳体向所述校准和控制单元提供了机械强度和电磁抗扰。

5.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述校准和控制单元包括超过一个能够操作以提供多个校准负载的开关。

6.根据权利要求1所述的装置，其中，所述存储器装置存储表征所述多个校准负载的数据。

7.根据权利要求6所述的装置，其中，表征所述校准负载的所述数据包括指示所述校准负载的所述RF反射系数对环境条件的依赖性的数据，其中所述环境条件包括温度、湿度、加速度和机械扰动中的至少一个。

8.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述存储器装置存储表征所述校准和控制单元的数据。

9.根据权利要求8所述的装置，其中，表征所述校准和控制单元的所述数据包括指示所述校准和控制单元的RF响应对环境条件的依赖性的数据，其中所述环境条件包括温度、湿度、加速度和机械扰动中的至少一个。

10.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述存储器装置存储表征所述至少一个测量单元的数据。

11.根据权利要求10所述的装置，其中，表征所述至少一个测量单元的所述数据包括针对所述校准和控制单元与所述至少一个测量单元之间的RF信号传播的RF校准数据。

12.根据权利要求10或11所述的装置，其中，表征所述至少一个测量单元的所述数据包括指示所述至少一个测量单元的RF响应对环境条件的依赖性的数据，其中所述环境条件包括温度、湿度、加速度和机械扰动中的至少一个。

13.根据前述权利要求中任一项所述的装置，该装置包括用于感测一个或更多个环境条件的一个或更多个传感器。

14.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述校准和控制单元包括用于确定所述至少一个测量单元的位置的一个或更多个传感器。

15.根据前述权利要求中任一项所述的装置，该装置包括超过一个校准和控制单元，各个校准和控制单元都与所述RF端口连接中的相应的一个相关联，针对所述RF端口连接中的每一个来计算所述至少一个测量单元中的每一个的所述RF响应。

16.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其中，所述存储器装置存储指示以下至少一个数据的数据：所述测量装置的识别数据、所述测量装置已用于测量的时间、由所述测量装置进行的测量的次数、由所述校准和控制单元执行的校准序列的数量、所述测量装置至所述分析器的已执行连接的数量。