[发明专利]用于制备高纯度冶金级硅的方法无效

专利信息
申请号: 200980123430.X 申请日: 2009-05-27
公开(公告)号: CN102066250A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: S·皮奇尼 申请(专利权)人: N.E.D.硅股份公司
主分类号: C01B33/025 分类号: C01B33/025;C01B33/037;C30B13/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 刘佳
地址: 意大利*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要:
搜索关键词: 用于 制备 纯度 冶金 方法
【权利要求书】:

1.一种用于从冶金级硅开始制备用于光电用途的硅的方法,包括以下步骤:

(a)选择(i)二氧化硅粉末,其具有的硼(B)的含量按重量计算低于0.1ppm,磷(P)的含量按重量计算低于0.1ppm,且金属杂质按重量计算不超过30ppm;

(ii)碳黑,其具有的B的含量按重量计算低于0.1ppm,P按重量计算低于0.1ppm,且金属杂质按重量计算不超过30ppm;以及

(iii)接合剂,其选自由蔗糖、淀粉、纤维素、聚乙烯醇、以及NaSiO3组成的组;

(b)制备所述二氧化硅粉末、所述碳黑、以及所述接合剂的混合物;

(c)将所述混合物制备成颗粒;

(d)使所述颗粒进行第一热处理;

(e)使所述经热处理的颗粒进行碳还原,从而获得熔融态硅;

(f)使所述熔融态硅进行第一提纯;

(g)使熔融态硅在定向凝固炉内进行定向凝固,从而获得用于光电用途的硅,

并且其中,所述步骤(b)到(g)在具有由硅铝陶瓷制成的内表面的设备中执行,所述硅铝陶瓷材料具有按重量计算大于99%的二氧化硅浓度,且适合于防止硅污染。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述二氧化硅粉末具有,含量为按重量计算从1到5ppm的钒(V)、含量为按重量计算从0.1到5ppm的铁(Fe)、含量为按重量计算从0.01到0.02ppm的铬(Cr)、含量为按重量计算从0.8到3.5ppm的钛(Ti)、含量为按重量计算从0.05到0.5ppm的铜(Cu);含量为按重量计算从1.5到16ppm的铝(Al)、含量为按重量计算从1到5ppm的钙(Ca)、含量为按重量计算从0.1到1.5ppm的镁(Mg)、含量为按重量计算低于0.1ppm的硼(B)、以及含量为按重量计算低于0.1ppm的磷(P)。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述碳黑不具有多环芳香烃(PAH)且具有含量为按重量计算从1到5ppm的V、含量为按重量计算从0.5到1.5ppm的Fe、含量为按重量计算1.6ppm的Cr、含量为按重量计算从0.05到2ppm的Ti、含量为按重量计算低于0.4ppm的镍(Ni)、含量为按重量计算从0.05到2ppm的B、以及含量为按重量计算从0.05到0.1ppm的P。

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