[发明专利]显示装置及其制造方法有效
| 申请号: | 200980123220.0 | 申请日: | 2009-12-22 |
| 公开(公告)号: | CN102165591A | 公开(公告)日: | 2011-08-24 |
| 发明(设计)人: | 松岛英晃 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L51/50;H01L51/56;C09K11/06 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 段承恩;徐健 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示装置 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及显示装置及其制造方法,尤其涉及具备有机发光层的显示装置及其制造方法。
背景技术
近年来,正进行着利用了有机材料的电致发光现象的显示装置的研究、开发。在该显示装置中,各像素部构成为具有阳电极及阴电极和介于它们之间的有机发光层。并且,在显示装置的驱动中,从阳电极注入空穴,从阴电极注入电子,通过空穴与电子在有机发光层内复合,进行发光。
在相邻的像素部的有机发光层彼此之间,通过由绝缘材料构成的堤(bank)进行区划。有机发光层的形成通过例如下述方式进行:在由堤区划出的各区域,滴下含有有机发光材料的墨,并使其干燥。
然而,存在难以使如上所述形成的有机发光层的膜厚均匀的问题。
在此,为了使有机发光层的膜厚均匀,例如在专利文献1中记载了如下技术:在堤内面设置凸状部,由此控制墨的锁住(pinning)位置。即,通过采用专利文献1中提出的技术,能够将一个像素部的墨锁在形成了墨滴下时的锁住位置的凸状部,由此,能够确保某种程度的膜厚均匀性。
在先技术文献
专利文献1:日本特开2007-311235号公报
发明内容
然而,可以认为:关于显示装置的面板的整个区域(中央部、外周部),采用由上述的专利文献1所提出的技术,难以按照面板的区域高精度地在堤内面形成微细的凸状部。因此,在显示装置的面板的整个区域(中央部、外周部)中,不容易使有机发光层的膜厚均匀。
本发明是为了谋求解决上述问题而完成的发明,其目的在于提供一种谋求位于面板外周部的像素部的有机发光层的膜厚的均匀化、且面板面内的辉度(brightness)不匀少的显示装置及其制造方法。
因此,本发明的一种方式的显示装置的特征在于采用如下结构。
本发明的一种方式的显示装置由排列多个像素部而成,各像素部构成为具有第一电极及第二电极、和夹在第一电极与第二电极之间的有机发光层。在本发明的一种方式的显示装置中,在第一电极的上方,立设有按各像素部区划有机发光层的多个堤。所述多个像素部包括都位于像素排列的端部侧、且在像素排列的方向上彼此相邻的第一像素部和第二像素部,多个堤包括区划第一像素部的有机发光层和第二像素部的所述有机发光层的第一堤。
在本发明的一种方式的显示装置中,特征在于,在第一堤中,与第一像素部对应的第一侧面部的倾斜角度比与第二像素部对应的第二侧面部的倾斜角度大。
在本发明的一种方式的显示装置中,在形成于像素排列的端部侧的第一堤中,具有与第一像素部对应的第一侧面部的倾斜角度比与第二像素部对应的第二侧面部的倾斜角度大的关系,因此,对于其制造时的滴下了墨时的锁住位置,第一侧面部的锁住位置比第二侧面部的锁住位置高。因此,在干燥工序中,第一像素部的有机发光层的与第一侧面部对应的膜厚,具有相对于第二像素部的有机发光层的与第二侧面部对应的膜厚而要变薄的倾向。
另一方面,如上所述,由于蒸气浓度分布的不均匀,干燥后的有机发光层的膜厚会产生如下倾斜:第一像素部的与第一侧面部对应的部分,相对于第二像素部的与第二侧面部对应的部分而要变厚。因此,在本发明的一种方式的显示装置中,由蒸气浓度分布的不均匀导致的与第一侧面部对应的部分的有机发光层的膜厚要变厚的作用,被由增大所述第一侧面的倾斜角度所产生的膜厚的降低作用所抵消,因此,能够使端部侧像素部的有机发光层的膜形状一致。
因此,在本发明的一种方式的显示装置中,能谋求位于面板外周部的像素部的有机发光层的膜形状的均匀化,实现辉度不均匀的降低。
附图说明
图1是表示实施方式的显示装置1的概略结构的框图。
图2是表示显示面板10中的像素部100的示意剖视图。
图3是表示显示面板10中的堤105的示意俯视图。
图4是表示显示面板10中的像素部100a~100c各自的堤105a~105d的构造的示意剖视图。
图5(a)是表示堤侧面部的锥角小的情况下的锁住位置的示意剖视图,图5(b)是表示堤侧面部的锥角大的情况下的锁住位置的示意剖视图,图5(c)是表示堤侧面部的锥角小的情况下的干燥后的有机发光层的状态的示意剖视图,图5(d)是表示堤侧面部的锥角大的情况下的干燥后的有机发光层的状态的示意剖视图。
图6是汇总表示堤的倾斜角度(锥角)θ、锁住高度H以及有机发光层的膜厚T的关系的图。
图7是表示样品1~3的有机发光层的膜厚分布的图。
图8是表示样品4、5的有机发光层的膜厚分布的图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





