[发明专利]使用未经衰减校正的PET发射图像补偿不完整解剖图像有效

专利信息
申请号: 200980117410.1 申请日: 2009-05-04
公开(公告)号: CN102027507A 公开(公告)日: 2011-04-20
发明(设计)人: Z·胡;D·加尼翁;C-H·通 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 使用 未经 衰减 校正 pet 发射 图像 补偿 完整 解剖
【权利要求书】:

1.一种解剖图像校正系统(10),包括:

存储器(20),其存储在受检者的扫描期间采集的截断的解剖图像数据以及在所述受检者的正电子发射断层摄影(PET)扫描期间采集的正电子发射断层摄影数据;以及

处理器(18),其从所采集的正电子发射断层摄影数据重建未经衰减校正的(NAC)正电子发射断层摄影图像,从所采集的截断的解剖图像数据产生衰减图(30),并使用所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像中的轮廓补偿所述衰减图(30)中的截断的图像数据。

2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述处理器(18)确定所述衰减图(30)中的数据的精确度的可能性。

3.根据权利要求2所述的系统,其中,所述处理器(18)通过确定区域中的截断数据是否具有低于预定阈值的精确度的可能性来识别所述衰减图(30)的截断区域。

4.根据权利要求1所述的系统,其中,所述处理器(18)识别所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像中与所述衰减图(30)的截断区域对应的轮廓。

5.根据权利要求4所述的系统,其中,所述处理器(18)根据所识别的轮廓推断用于校正所述衰减图(30)的所述截断区域的组织类型。

6.根据权利要求5所述的系统,其中,所述处理器(18)利用与所推断的组织类型一致的内插数据填充所述截断区域以校正所述截断区域。

7.根据权利要求6所述的系统,其中,所述处理器(18)采用经校正的衰减图从所述正电子发射断层摄影数据重建经衰减校正的正电子发射断层摄影图像。

8.根据权利要求1所述的系统,还包括采集所述截断的解剖图像的成像装置(16)以及采集所述正电子发射断层摄影数据的正电子发射断层摄影扫描器(14)。

9.根据权利要求1所述的系统,还包括显示器(22),所述显示器(22)向用户呈现所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像、所述衰减图(30)以及所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像和所述衰减图(30)的叠加。

10.根据权利要求1所述的系统,还包括:

用于重建所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像和所述衰减图(30)的模块(26);

用于使用所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像中的所述轮廓来校正所述衰减图(30)中的截断数据的模块(28);以及

用于使用经校正的衰减图来校正衰减的正电子发射断层摄影数据的模块(32)。

11.根据权利要求1所述的系统,其中,所述存储器存储机器可执行指令,且所述处理器执行该机器可执行指令,其包括:

用于产生所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像的例程(50);

用于分割所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像以识别所述轮廓的例程(52);

用于识别所述衰减图(30)中的截断区域的例程(54);

用于使用所识别的轮廓作为引导来校正所述截断区域的例程(56);以及

用于使用经校正的衰减图来重建经衰减校正的正电子发射断层摄影图像的例程(58)。

12.一种使用未经衰减校正的(NAC)正电子发射断层摄影(PET)图像来校正衰减图的方法,包括:

产生所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像;

分割所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像以识别身体轮廓;

识别所述衰减图(30)中的截断区域;

使用所识别的轮廓来校正所述衰减图(30)的所述截断区域以推断用于截断补偿的合适组织类型;以及

使用经校正的衰减图来重建经衰减校正的正电子发射断层摄影图像。

13.根据权利要求12所述的方法,还包括相继执行以下操作:采集用于产生所述衰减图(30)的截断的解剖图像数据的扫描;以及采集用于产生所述未经衰减校正的正电子发射断层摄影图像和所述经衰减校正的正电子发射断层摄影图像的正电子发射断层摄影数据的正电子发射断层摄影扫描。

14.根据权利要求13所述的方法,还包括使用所采集的截断的图像数据和从所采集的正电子发射断层摄影数据推导出的身体轮廓来识别所述截断扫描和所述正电子发射断层摄影扫描之间的患者运动。

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