[发明专利]闪烁器、闪烁器的制造方法以及放射线检测器有效
申请号: | 200980116517.4 | 申请日: | 2009-03-13 |
公开(公告)号: | CN102017010A | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | 森谷隆广;山下贵司;挂川诚 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G21K4/00 | 分类号: | G21K4/00;G01T1/20;G01T1/202 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 闪烁 制造 方法 以及 放射线 检测器 | ||
1.一种闪烁器的制造方法,其特征在于:
所述闪烁器被用于放射线检测器,所述放射线检测器具备所述闪烁器以及与该闪烁器的表面光学结合的多个光检测器或者位置检测型光检测器;
所述闪烁器的制造方法包括形成多个改质区域的工序,通过将激光照射至成为所述闪烁器的结晶块的内部,从而在所述结晶块的内部形成具有与周围不同的折射率且三维散布的多个改质区域。
2.如权利要求1所述的闪烁器的制造方法,其特征在于:
将各个改质区域配置为,使得所述闪烁器中的闪烁光以对应于其产生位置的分配比率被分配给所述多个光检测器的各个或者所述位置检测型光检测器。
3.如权利要求1或2所述的闪烁器的制造方法,其特征在于:
所述多个改质区域是对光进行散射的区域以及构成衍射型透镜的区域中的至少一者。
4.一种放射线检测器,其特征在于:
具备:
包含多个改质区域的闪烁器,和
与所述闪烁器的表面光学结合的多个光检测器或者位置检测型光检测器,
所述多个改质区域通过将激光照射至成为所述闪烁器的结晶块的内部而形成,并且在所述闪烁器的内部具有与周围不同的折射率,且所述多个改质区域以三维进行散布。
5.如权利要求4所述的放射线检测器,其特征在于:
所述多个改质区域的各个被配置为,所述闪烁器中的闪烁光以对应于其产生位置的分配比率被分配给所述多个光检测器的各个或者所述位置检测型光检测器。
6.如权利要求4或5所述的放射线检测器,其特征在于:
所述多个改质区域是对光进行散射的区域以及构成衍射型透镜的区域中的至少一者。
7.一种闪烁器,其特征在于:
包括多个改质区域,所述多个改质区域通过将激光照射至成为闪烁器的结晶块的内部而形成,并在所述结晶块的内部具有与周围不同的折射率,且所述多个改质区域以三维进行散布。
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