[发明专利]用于重构混浊介质内部的荧光图像的方法以及用于对混浊介质内部成像的设备有效
申请号: | 200980111054.2 | 申请日: | 2009-03-20 |
公开(公告)号: | CN101980656A | 公开(公告)日: | 2011-02-23 |
发明(设计)人: | R·齐格勒;A·齐格勒;T·尼尔森 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00;G01N21/49;G01N21/64 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李亚非;刘鹏 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 混浊 介质 内部 荧光 图像 方法 以及 成像 设备 | ||
1.用于重构混浊介质内部的荧光图像的方法,该方法包括步骤:
-在测量体(4)中容纳向其施用了荧光对比剂的混浊介质(1),荧光对比剂能够在用光照射时发射第一波长范围内的光;
-通过随后利用来自多个不同源位置的光照射混浊介质(1)并且对于每个源位置在多个检测位置检测从混浊介质(1)发出的光,在多个不同的波长(λ1,...,λk)下执行衰减测量;
-根据衰减测量,对于所述多个不同的波长重构作为混浊介质(1)内部的位置的函数的吸收特性(μa(r,λ));
-对于第一波长范围的波长计算作为混浊介质(1)内部的位置的函数的吸收特性;
-通过随后利用来自所述多个源位置的使得荧光对比剂发射第一波长范围内的光的光照射混浊介质(1)并且对于每个源位置在所述多个检测位置检测从荧光对比剂发出的光,执行荧光测量;
-根据荧光测量使用计算的吸收特性重构混浊介质(1)内部荧光对比剂的空间分布的荧光图像。
2.依照权利要求1的方法,其中在重构吸收特性的步骤中,计算吸收系数(μa(r,λ))。
3.依照权利要求2的方法,其中通过将混浊介质(1)看作多种物质(i)的线性组合并且在所述多个不同的波长(λ1,...,λk)下根据衰减测量确定所述多种物质的局部浓度(ci),来计算吸收系数(μa(r,λ))。
4.依照权利要求3的方法,其中使用所述多种物质(i)的已知光谱行为计算对于第一波长范围的波长的吸收特性(μa(r,λ))。
5.依照权利要求3或4中任何一项的方法,其中所述多种物质(i)包括荧光对比剂。
6.依照权利要求5的方法,其中将重构的荧光图像作为输入反馈到重构作为混浊介质内部的位置的函数的吸收特性(μa(r,λ))的步骤,并且迭代地重复计算吸收特性和重构荧光图像的步骤。
7.用于对混浊介质内部成像的设备;该设备包括:
-测量体(4),其适于容纳向其施用了荧光对比剂的混浊介质(1),所述荧光对比剂在照射时能够发射第一波长范围的光;
-光源单元(6),其适于随后利用来自多个不同源位置的光照射测量体(4);光源单元能够有选择地发射多个不同波长(λ1,...,λk)的光;
-检测单元(7),其适于在多个不同检测位置检测从测量体(4)发出的光;以及
-控制和重构单元(8),其适于控制所述设备以
-通过随后利用来自多个不同源位置的光照射测量体(4)在多个不同的波长下执行衰减测量,并且对于每个源位置在多个检测位置处检测从测量体(4)发出的光;
-通过随后利用来自所述多个源位置的使得荧光对比剂发射第一波长范围内的光的光照射测量体(4)并且对于每个源位置在所述多个检测位置检测从荧光对比剂发出的光,执行荧光测量;
-根据衰减测量对于所述多个不同的波长重构作为测量体(4)内的位置的函数的吸收特性(μa(r,λ));
-对于第一波长范围的波长计算作为测量体(4)内的位置的函数的吸收特性;
-根据荧光测量使用计算的吸收特性重构测量体(4)内荧光对比剂的空间分布的荧光图像。
8.依照权利要求7的设备,其中在该设备中提供可在测量体(4)与检测单元(7)之间的光路上引入的滤光器以用于荧光测量。
9.依照权利要求7或8中任何一项的设备,其中该设备是医疗图像采集设备。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司,未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980111054.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。