[发明专利]晶体振荡器频率校准

权利要求书

1.一种用于计算供在晶体振荡器频率的多项式逼近中使用的系数的方法，所述多项式包含项c0′及系数c1′乘以所述晶体振荡器的测得温度T，所述方法包含：

测量第一温度T1及对应振荡器频率Fm(T1)；

测量第二温度T2及对应振荡器频率Fm(T2)；

基于Fm(T1)计算所述系数c0′；及

基于T1、T2、Fm(T1)及Fm(T2)计算所述系数c1′。

2.根据权利要求1所述的方法，所述计算所述系数c0′包含取得Fm(T1)与初始项F_init(T1)之间的差。

3.根据权利要求2所述的方法，所述初始项F_init(T1)包含项c0_init及系数c1_init乘以T1。

4.根据权利要求1所述的方法，所述计算所述系数c1′包含将Fm(T2)与Fm(T1)之间的差除以T2与T1之间的差。

5.根据权利要求4所述的方法，其中T1与T2之间的所述差为至少1摄氏度。

6.根据权利要求4所述的方法，其进一步包含在测量T1之后且在测量T2之前开启热源。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述热源为功率放大器。

8.根据权利要求1所述的方法，其进一步包含计算c0′及c1′的多个估计。

9.根据权利要求8所述的方法，其进一步包含将c0′及c1′的所述多个估计一起求平均。

10.根据权利要求8所述的方法，其进一步包含使用无限脉冲响应(IIR)滤波器来更新c0′及c1′的估计。

11.根据权利要求4所述的方法，所述多项式进一步包含系数c2′乘以T的二阶函数及系数c3′乘以T的三阶函数，所述方法进一步包含：

基于c1′计算所述系数c2′及c3′。

12.根据权利要求11所述的方法，所述计算所述系数c2′包含将c1′乘以项m_c2′。

13.根据权利要求11所述的方法，所述计算所述系数c3′包含将c1′乘以项m_c3′。

14.根据权利要求13所述的方法，其进一步包含通过取得Fm(T1)与F′(T1)之间的差来更新所述项c0′，其中F′(T1)包含所述预先更新的项c0′以及所述计算出的系数c1′、c2′及c3′。

15.根据权利要求13所述的方法，其进一步包含计算c0′、c1′、c2′及c3′的多个估计。

16.根据权利要求15所述的方法，其进一步包含将c0′、c1′、c2′及c3′的所述多个估计一起求平均。

17.根据权利要求15所述的方法，其进一步包含使用无限脉冲响应(IIR)滤波器来更新c0′、c1′、c2′及c3′的估计。

18.根据权利要求15所述的方法，其进一步包含通过使以下两者之间的均方误差最小化来更新c0′、c1′、c2′及c3′的估计：1)基于c0′、c1′的候选估计的频率估计，及2)所述测得频率Fm(T1)。

19.根据权利要求18所述的方法，所述基于c0′、c1′的候选估计的频率估计利用与c0′及c1′的所述候选估计线性相关的c2′及c3′的估计。

20.根据权利要求1所述的方法，其中所述计算c0′及c1′的所述估计是在工厂进行的。

21.一种用于计算供在晶体振荡器频率的多项式逼近中使用的系数的方法，所述多项式包含项c0′及系数c1′乘以所述晶体振荡器的测得温度T，所述方法包含：

进入状态FIELD0，在所述状态FIELD0中的操作包含：如果所述测得温度T在第一温度范围内，则计算所述系数c0′；及

进入状态FIELD1，在所述状态FIELD1中的操作包含：如果所述测得温度T在第二温度范围内，则计算所述系数c1′。