[发明专利]程序测试装置以及程序

说明书

技术领域

本发明主要涉及对控制半导体制造装置等的硬件的程序进行测试的程序测试装置等。

背景技术

在以往的程序测试装置中，有自动地反复执行程序的测试的程序开发装置(例如参考专利文献1)。本装置进行以下动作，即：向自动测试装置输入想要进行测试的命令，自动测试装置向状态监视装置询问仿真装置能否接收来自自动测试装置的命令。如果能够接收命令，则将命令发送给仿真装置。仿真装置按照所接收的命令来执行测试程序，并将执行结果发送给自动测试装置。自动测试装置保存执行结果，并通过对所有的命令反复执行来进行测试程序的测试。

专利文献1：日本专利文献特开2003-22199号公报(第1页、图1等)。

发明内容

然而，在以往的程序测试装置中，在进行正常响应以外的异常响应或动作不良等的测试时，通常通过手动操作来改变模拟器侧的动作来实施测试。因此，在异常响应或动作不良的情况的测试中存在手动操作，测试繁琐并会产生错误。

本发明的第一方面的程序测试装置，包括：测试对象程序存储部，其存储作为测试对象的程序的测试对象程序；模拟器程序存储部，其存储模拟器程序，所述模拟器程序是模拟硬件的动作的程序，并且是进行与作为从测试对象程序传递的信息的程序信息和动作模式对应的动作的程序；测试信息接收部，其接收作为为了对所述测试对象程序进行测试而提供给该测试对象程序的信息的、具有输入信息和动作模式的测试信息；测试控制部，获取所述测试信息所具有的动作模式并传递给所述模拟器程序；以及执行部，将所述测试信息具有的输入信息提供给测试对象程序并执行该测试对象程序，并且使用作为该测试对象程序的执行结果的程序信息和所述测试控制部传递给所述模拟器程序的动作模式来执行所述模拟器程序。

通过该结构，能够自动地切换模拟器程序的动作模式来进行测试。因此，特别是能够自动地容易进行硬件错误时的测试对象程序的测试。

另外，与本发明的第一方面相对，本发明的第二方面的程序测试装置，还包括：测试信息存储部，存储有两个以上的测试信息；以及自动测试部，依次从所述测试信息存储部读出两个以上的测试信息，并传递给所述测试信息接收部。

通过该结构，能够对两个以上的测试项目自动地进行测试。

另外，与本发明的第二方面相对，本发明的第三方面的程序测试装置，其中：所述测试信息还具有作为测试对象程序的正常的动作结果的正解信息，所述程序测试装置还包括测试结果判断部，所述测试结果判断部获取所述执行部的所述测试对象程序的动作结果，并使用该动作结果和所述测试信息具有的正解信息判断测试为正常或异常，输出该判断结果。

通过该结构，能够进行测试结果的正常或异常的自动判断。

另外，与本发明的第一至第三中任一方面相对，本发明的第四方面的程序测试装置，其中：所述测试信息还具有所述模拟器程序进行动作所使用的IO值，所述测试控制部获取所述测试信息所具有的动作模式和IO值并传递给所述模拟器程序，所述执行部将所述测试信息所具有的输入信息提供给测试对象程序并执行该测试对象程序，并且使用作为该测试对象程序的执行结果的程序信息以及所述测试控制部传递给所述模拟器程序的动作模式和IO值来执行所述模拟器程序。

根据该结构，能够进行以下测试：自动地进行模拟器程序的动作模式并且自动地改变模拟器程序所使用的IO值。因此，特别是能够自动地容易进行硬件错误是的测试对象程序的测试。

另外，与本发明的第一至第三中任一方面相对，本发明的第五方面的程序测试装置，其中：所述测试控制部还进行获取作为所述模拟器程序的动作结果的IO值并输出的处理。

通过该结构，能够正确把握并且判断测试对象程序的动作结果。

另外，与本发明的第一至第五中任一方面相对，本发明的第六方面的程序测试装置，其中：所述动作模式至少具有正常模式和异常模式。

通过该结构，至少能够自动地进行正常模式和异常模式这两者的测试。