[发明专利]摄像用光检测装置有效
| 申请号: | 200980100612.5 | 申请日: | 2009-07-24 |
| 公开(公告)号: | CN101816184A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
| 发明(设计)人: | 西胁青儿;铃木正明;若林信一;米本和也;平本政夫 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | H04N9/07 | 分类号: | H04N9/07;G02B5/18;H01L27/14;H04N5/335 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 黄剑锋 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 摄像 用光 检测 装置 | ||
技术领域
本发明涉及为了拍摄物体的影像而使用的摄像用光检测装置。
背景技术
例如在非专利文献1及非专利文献2中公开了以往的摄像用光检测装置。
图17A是表示以往的摄像装置的概略结构的侧视图。自然光等的光入射到物体1上,将其反射后的光通过透镜系统2在CCD(Charge-coupledDevice,电荷耦合元件)或CMOS(Complementary Metal OxideSemiconductor,互补金属氧化物半导体)等的光检测装置4上形成像3。透镜系统2一般为了确保光学性能、将沿着光轴排列的多个透镜组合而构成,但在图17A中将图面简单化而描绘为单一的透镜。
图17B是表示光检测装置4的概略结构的图,是图17A的部分XVIIB的放大剖视图。在形成有多个光电探测器(photodetector)6的检测基板5上,依次层叠由SiO2等构成的低折射率的透明缓冲层7、由SiN等构成的高折射率的透明缓冲层8、多个虑色器9、多个微透镜10。在透明缓冲层7的与透明缓冲层8接触的表面7a上,形成有透明缓冲层7的膜厚在各光电探测器6之上变小的凹凸构造。另一方面,透明缓冲层8的与虑色器9接触的表面8a是平坦的。
微透镜10配置在正交栅格的交点位置上,在各微透镜10的中心轴上配置有1个虑色器9及1个光电探测器6。
微透镜10起到使如光线11a'那样相对于微透镜10的中心轴移位而入射的光折射而向光电探测器6导引的作用。透明缓冲层7的表面7a的凹凸构造也具有透镜效果,起到使朝向从光电探测器6的中心离开的方向的发散光11b'折射而向光电探测器6导引的作用。
虑色器9由红色透射滤波器9R、绿色透射滤波器9G、蓝色透射滤波 器9B的3种构成,红色透射滤波器9R如图18的曲线R所示,具有将红色以外的波长的光切断(吸收)的光透射特性(光谱灵敏度特性),绿色透射滤波器9G如图18的曲线G所示,具有将绿色以外的波长的光切断(吸收)的光透射特性(光谱灵敏度特性),蓝色透射滤波器9B如图18的曲线B所示,具有将蓝色以外的波长的光切断(吸收)的光透射特性(光谱灵敏度特性)(参照非专利文献2)。通过由红色透射滤波器9R、绿色透射滤波器9G、蓝色透射滤波器9B、以及明亮度检测用的绿色透射滤波器9G构成的4个虑色器9、和对应于它们的4个光电探测器6构成检测彩色的图像信息的彩色像素。在图19中表示对应于这4个虑色器9的光电探测器6的配置。在图19中,R表示对应于红色透射滤波器9R的检测红色的光电探测器,G表示对应于绿色透射滤波器9G的检测绿色的光电探测器,B表示对应于蓝色透射滤波器9B的检测蓝色的光电探测器。由在一个对角上配置有两个绿(基本像素G)、在另一个对角上配置有蓝(基本像素B)及红(基本像素R)的2列×2行的4个基本像素构成1个彩色像素19。将这样的配置称作Bayer排列,其优点是在沿垂直方向(X轴方向)或水平方向(Y轴方向)移位了彩色像素19的一半的尺寸(基本像素的尺寸)的位置上也能够构成彩色像素19'。由此,能够将析像度改善到彩色像素19的一半的尺寸(彩色像素19的1/4的面积)、即基本像素的尺寸。
图20是光检测装置4的检测面的放大俯视图。多个光电探测器6在正交栅格的交点位置上相互离开且绝缘而配置。在水平方向上相邻的光电探测器6之间,设有沿垂直方向延伸的信号配线即多个垂直传送CCD17,多个垂直传送CCD17与沿水平方向延伸的信号配线即水平传送CCD18连接。由微透镜10聚光的光由位于其正下方的光电探测器6接受并进行光电变换。储存在光电探测器6中的电荷被传送给垂直传送CCD17、再传送给水平传送CCD18,作为图像信号输出。
在上述图17B所示的光检测装置4中,为了使特定的颜色的光入射到各光电探测器6中而使用虑色器9。对此,提出了如下的光检测装置,即:如图21所示,利用微棱镜31使透射了微透镜(未图示)的来自被摄体的光30分散,并用光电探测器32R、32G、32B检测红(R)、绿(G)、蓝(B)的各色光(参照专利文献1)。
专利文献1:日本特表2002-502120号公报
非专利文献1:光技术接点,Vol.40,No.1(2002),P24
非专利文献2:晶体管技术,2003年2月号,P128
对于摄像用光检测装置,对小型且高像素化的要求日益升高。但是,在上述以往的摄像用光检测装置中,因为以下的理由,在满足该要求的方面是有限的。
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