[发明专利]显示装置及其控制方法有效

专利信息
申请号: 200980100514.1 申请日: 2009-06-30
公开(公告)号: CN101809643A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 白水博;中村哲朗 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G09G3/30 分类号: G09G3/30;G01R31/26;G09F9/00;G09G3/20;H01L51/50
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 段承恩;杨光军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 显示装置 及其 控制 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及显示装置及其控制方法,尤其涉及发光元件特性的评价方 法。

背景技术

作为使用了电流驱动式发光元件的图像显示装置,周知的是使用了有 机电致发光元件(OLED:Organic Light Emitting Diode:有机发光二极 管)的图像显示装置(有机电致发光显示器)。该有机电致发光显示器具 有视角特性良好,电力消耗少等的优点,作为下一代的平板显示器(FPD: Flat Panel Display)的候选而受到注目。

通常,在有机电致发光显示器中,将构成像素的有机电致发光元件设 置成矩阵形。在多个行电极(扫描线)和多个列电极(数据线)的交叉点 上设置有机电致发光元件,在被选择的行电极和多个列电极之间施加相当 于数据信号的电压,以此来驱动有机电致发光元件,这被称为无源矩阵式 (passive matrix type)的有机电致发光显示器。

另一方面,在多个扫描线和多个数据线的交叉点上设置薄膜晶体管 (TFT:Thin Film Transistor),在该TFT上连接了驱动晶体管(driving  transistor)的栅极,通过被选择的扫描线使该TFT导通,从数据线向驱 动晶体管输入数据信号,由该驱动晶体管驱动有机电致发光元件,这被称 为有源矩阵式(active matrix type)的有机电致发光显示器。

与仅在选择各行电极(扫描线)的期间,与其连接的有机电致发光元 件发光的无源矩阵式的有机电致发光显示器不同的是,有源矩阵式的有机 电致发光显示器能够使有机电致发光元件发光到下次扫描(选择)为止, 所以即使占空比上升,也不会导致显示器的亮度减少。从而,能够以低电 压驱动,所以能够实现低消耗电力化。然而,在有源矩阵式的有机电致发 光显示器中,因为驱动晶体管以及有机电致发光元件的特性的不均匀,即 使给予同样的数据信号,在各像素中有机电致发光元件的亮度不同,出现 了亮度不均这样的缺点。

作为以往的有机电致发光显示器的由制造工序中所产生的驱动晶体管 或有机电致发光元件的特性的不均匀(以下,统称为特性的不均一)导致 的亮度不均的补偿方法,具代表性的有:由复杂的像素电路进行的补偿、 以及在外部存储器的补偿等。

但是,复杂的像素电路会降低成品率。而且不能补偿各个像素的有机 电致发光元件的发光效率的不均一。

根据上述理由提出了这样的方法,利用外部存储器对每个像素的特性 不均一进行补偿。

例如,在专利文献1所公开的用于发光板的衬底、用于发光板的衬底 的检查方法及发光板中,在以往的由两个晶体管构成的电压驱动像素电路 上连接了二极管连接的晶体管,将其当作是电致发光(EL),从而在电致 发光形成之前的用于发光板的衬底的状态下,测定连接在该二极管连接的 晶体管上的测试线中流动的电流,检测信号电压和在驱动晶体管流动的电 流之间的关系,进行像素检查以及像素特性提取。而且,该电致发光形成 之后,能够使二极管连接的晶体管使用测试线作为反向偏压不流动电流, 所以能够进行通常的电压写入工作。而且,以阵列的状态检测出的特性, 可用于使用有机电致发光板时的向数据线的施加电压的校正控制。

专利文献1:日本国特开2006-139079号公报

然而,具有如上述的有机电致发光元件的显示装置中,初期的特性不 均和因劣化导致的特性变化不仅发生在晶体管中,也发生在有机电致发光 元件中,所以不检测有机电致发光特性的以往的方法是无法补偿像素的亮 度不均的。

尤其,有机电致发光元件还具有烧屏(burn-in,烧印)的问题,这 是因历时变化导致的劣化现象。关于烧屏问题,考虑了能够通过进行反馈 来补偿有机电致发光发光元件的电流-电压特性,不过,在实际的像素电 路中,配线电阻、开关元件的内部电阻高,进而寄生电容大,所以从供应 用于IV特性调查的电流,直到读取有机电致发光元件的电压为止需要长 时间的充电时间。因而,如以往的具有有机电致发光元件的显示装置,存 在无法准确且快速地补偿有机电致发光元件的特性的课题。

发明内容

鉴于上述课题,本发明的目的在于提供一种显示装置及其控制方法, 在以有机电致发光元件为代表的发光元件作为构成要素的电子电路中,能 够准确且快速地检测出所述发光元件的电流-电压特性。

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