[发明专利]测量溴酸根离子的方法和设备有效
申请号: | 200980100486.3 | 申请日: | 2009-03-18 |
公开(公告)号: | CN101815938A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | 田中良春;五十岚淑郎;加藤润 | 申请(专利权)人: | 美得华水务株式会社;国立大学法人茨城大学 |
主分类号: | G01N31/00 | 分类号: | G01N31/00;G01N21/64;G01N21/78 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 顾晋伟;张耀宏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 溴酸 离子 方法 设备 | ||
1.一种用于测量样品中溴酸根离子的方法,所述方法包括以下步 骤:
将荧光物质与所述样品混合,所述荧光物质在酸性条件下通过与溴 酸根离子共存而猝灭;
在所述荧光物质猝灭后测量荧光强度;
从不含溴酸根离子的标准样品的荧光强度减去所测量的荧光强度 来计算荧光强度差;以及
利用预先确定的荧光强度差与溴酸根离子浓度之间的校准线来根 据所计算的荧光强度差计算溴酸根离子浓度。
2.根据权利要求1的方法,其中所述方法还包括在将所述荧光物 质与所述样品混合的步骤之前向所述样品中添加螯合剂的步骤。
3.根据权利要求2的方法,其中所述螯合剂为乙二胺四乙酸盐。
4.根据权利要求1至3中任一项的方法,其中所述荧光物质为三 氟拉嗪。
5.一种用于测量样品中溴酸根离子的设备,所述设备包括:
用于混合荧光物质与样品的装置,所述荧光物质在酸性条件下通过 与溴酸根离子共存而猝灭;
用于在所述荧光物质猝灭后测量荧光强度的装置;
用于从不含溴酸根离子的标准样品的荧光强度减去所测量的荧光 强度来计算荧光强度差的装置;和
用于利用预先确定的荧光强度差与溴酸根离子浓度之间的校准线 来根据所计算的荧光强度差计算溴酸根离子浓度的装置。
6.根据权利要求5的设备,其中所述设备构造为用荧光强度测量 装置测量暂时保存在混合装置中的样品和荧光物质的混合物。
7.根据权利要求5的设备,其中所述设备构造为用荧光强度测量 装置测量在混合装置中连续流动的样品和荧光物质的混合物。
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