[发明专利]太阳电池的检查装置及检查装置用输送装置

说明书

技术领域

本发明涉及用于检查太阳电池单元、将太阳电池单元连接成一列而成的电池串、平行配置有多个电池串的太阳电池板等太阳电池的通常的性能的装置及用于该检查装置的输送装置。

背景技术

作为太阳能的利用方法已知有硅型太阳电池。在太阳电池的制造中，太阳电池是否具有目标发电能力的性能评价是非常重要的。性能评价中通常进行输出特性的测定。

输出特性在光照射下作为测定太阳电池的电流电压特性的光电转换特性来进行。作为光源，优选的是太阳光，但由于照射强度会因天气而变化，所以使用的是太阳模拟器。在太阳模拟器中，代替太阳光使用氙气灯或卤化金属灯等。若长期点亮上述光源，则会因温度上升等而使光量发生变化。因此，利用上述灯的闪光，将横轴设成电压、纵轴设成电流，用收集到的数据制作曲线，由此获得太阳电池的输出特性曲线(例如，参照专利文献1)。

作为不同于太阳模拟器的方法，专利文献2中提出的是通过向多晶硅太阳电池元件顺向施加电压来产生场致发光(EL)的方法。通过观察从太阳电池元件发出的EL，能够获知电流密度分布，并能够根据电流密度分布的不均匀得知太阳电池元件的缺陷。即，不发光的部分可判断为缺陷部分，如果该缺陷部分的面积少于预定量，则可判断为具有规定的发电能力。

图15是示意性表示专利文献2所记载的检查装置的结构的图。检查装置10包括：暗室11、设置在该暗室11的上部的CCD照相机12、给载置在暗室11的地板面上的太阳电池单元13通电流的电源14、对来自CCD照相机12的图像信号进行处理的图像处理装置15。

暗室11具有窗11a，此处有CCD照相机12的取景器12a，通过从此处用肉眼观察，能够确认CCD照相机12的拍摄图像。作为图像处理装置15使用微型计算机。

[专利文献1]日本特开2007-88419；

[专利文献2]WO/2006/059615。

图15所示的检查装置10是将太阳电池单元13放在下面，用照相机从上面拍摄的装置，但从太阳电池单元13发出的EL是1000nm～1300nm波长的微弱光，如果不是在暗室11就无法检测到。如果被测定物是1块太阳电池单元，则为100平方毫米左右，所以暗室11也可以很小。

但如果是太阳电池，则为2m×1m左右的大小，暗室11也需要有能够收容该太阳电池的大小。另外，只要作为被测定物的太阳电池不进入暗室内就无法用照相机12进行拍摄，所以在暗室必须设置能够使太阳电池出入的门。若设置成将检查装置输入这种暗室内的结构，则还必须确保设置的门关闭时的遮光性。另外，在暗室内还需要设置被输入检查装置的太阳电池的定位构件及输送导向构件。进而，在暗室内还需要设置用于给太阳电池通电流的通电机构。这种情况下结构复杂且成本高。

再有，在将这种检查装置作为太阳电池生产线的一个装置进行组装时产生以下问题。由于作为被测定物的太阳电池的大型化，当用照相机拍摄太阳电池整体来进行检查时，在将该照相机设置在太阳电池的下方的情况下，需要设定较长的太阳电池与照相机之间的距离。因此，在要统一生产线上的太阳电池的通路线(从工厂地面到输送太阳电池的位置的高度尺寸)时，只有设置该检查装置的部位必须深挖工厂地面来进行设置。因而，导入装置时的附带成本增加。

另外，在将这种检查装置作为太阳电池的生产线的一个装置进行组装时有以下要求。即，希望将构成作为被测定物的太阳电池的构件即透明基板/太阳电池单元(以下，所谓太阳电池单元还包括将太阳电池单元串联连接而成的电池串、还有将电池串多列连接而成的板。)/填充材料/背面材料在层叠层压处理之前向上述检查装置输送进行检查的要求。太阳电池存在大型化的倾向，达到2m×1m以上的大小。如后所述，层压处理前的被测定物是最上面的背面材料覆盖最下面的透明基板/太阳电池单元/填充材料并伸出到透明基板的外侧层叠而成。因而，在向上述检查装置输送时，若背面材料与装置的结构构件接触，则层叠的太阳电池的结构构件位置相互偏离。另外，由于这种输送过程中的故障导致构成电池串及太阳电池板的单元相互之间的位置也偏离，无法进行太阳电池单元的准确的缺陷检查，给后工序的层压处理也带来障碍。

发明内容

本发明是鉴于上述情况而实现的，目的在于提供一种给太阳电池通顺向电流使其EL发光的检查装置，其是结构简单且廉价的太阳电池的检查装置。另外，本发明的第二目的在于提供一种将层压处理前的作为被测定物的太阳电池的结构构件以层叠状态向上述检查装置输送时，不会产生作为被测定物的太阳电池的结构构件位置偏离的输送装置。