[实用新型]弱磁性材料磁力测量装置无效

专利信息
申请号: 200920313928.X 申请日: 2009-11-03
公开(公告)号: CN201576087U 公开(公告)日: 2010-09-08
发明(设计)人: 王锦辉;朱莲根;夏樟根;刘畅;张锐 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12;G01R33/16
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 磁性材料 磁力 测量 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及的是一种电磁学技术领域的装置,具体是一种弱磁性材料磁力测量装置。

背景技术

磁性材料在磁场中的受力反映了材料的物理特征。对于抗磁性材料,磁化率为负值,当它们受到外磁场H作用后,感生出与H方向相反的磁化强度。当抗磁性物质靠近磁体时,会产生轻微的排斥力。而顺磁性物质,磁化率大于0,但数值很小,在受到外磁场作用后,感生出与H同方向的磁化强度,仅显示微弱吸引力。但弱磁性材料在磁场中的受力非常小,通常无法测出。

经过检索未发现本领域中类似技术的应用。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术存在的上述不足,提供一种弱磁性材料磁力测量装置,该装置无需外加电源,只有磁力和重力参与,没有第三种力的介入,且结构简单,成本低,方便作为实验仪用于研究弱磁性材料的磁性。

本实用新型是通过以下技术方案实现的,本实用新型包括:底座、套杆、摆线、磁铁阵列和固定架,其中:套杆固定在底座上,套杆的顶端与摆线的一端固定连接,摆线的另一端与待测磁体相连接,磁铁阵列固定设置于固定架上且高度与待测磁体相同,固定架活动设置于底座上。

所述的磁铁阵列包括若干永磁体,每一块永磁体的磁化方向与相邻永磁体的磁化方向相反,永磁体的个数为n2个,其中:n为大于1的自然数。

所述的永磁体为矩形结构或三角形结构。

所述的待测磁体的形状为矩形体或者球体。

本实用新型通过磁力与重力的比例得以精确测量弱磁性材料的磁力。

附图说明

图1为本实用新型示意图。

图2为磁铁阵列示意图。

图3为顺磁材料片示意图。

具体实施方式

下面对本实用新型的实施例作详细说明,本实施例在以本实用新型技术方案为前提下进行实施,给出了详细的实施方式和具体的操作过程,但本实用新型的保护范围不限于下述的实施例。

如图1所示,本实施例包括:底座1、套杆2、摆线3、磁铁阵列4和固定架5,其中:套杆2固定在底座1上,套杆2的顶端与摆线3的一端固定连接,摆线3的另一端与待测磁体6相连接,磁铁阵列4固定设置于固定架5上且高度与待测磁体6相同,固定架5通过丝杠7活动设置于底座1上。

如图1所示,在套杆2和底座1上固定设有水平标尺8。

如图2所示,本实施例依次采用4种磁铁阵列4,分别包括4块、9块、16块和8块永磁体9,每一块永磁体9的磁化方向与相邻永磁体9的磁化方向相反。

如图2所示,本实施例采用的2种永磁体9为矩形结构或三角形结构。

如图3所示,本实施例采用的3种待测磁体6的形状为片状矩形体,该片状矩形体上开有0、1、7个不同个数的缝隙10。

测量过程如下:

通过丝杠,调节磁铁位置,并调节套杆上下高度,保证抗磁和顺磁材料片或球正对于磁铁阵列中心并尽量平行于磁铁阵列表面。套杆的高度可从套杆上的刻度读出,磁铁长方体块或者磁铁阵列的位置可从标尺读出。摆线与竖直方向的夹角可从标尺及套杆上的刻度计算出。由摆线的长度、摆线与竖直方向的夹角可计算出弱磁性材料片或者球偏离竖直方向的位移,进而可以计算出与磁铁表面的距离。还根据弱磁性材料片或者球的重量计算出磁场对材料的作用力。更换不同材料,从斥力或引力的大小,研究材料的磁化率大小。磁铁架移动要缓慢。

利用一组分别开有不同数目缝隙的铝片。快速移动磁铁架,材料片随磁铁运动而运动。从运动跟随情况,可以考察楞次定律。

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