[实用新型]多功能测试卡

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试卡，尤其涉及一种用以测试主板上多种接口的多功能测试卡。

背景技术

当前测试主板时，很多机种的不同类型的接口很多，不同类型的接口需要用对应的测试不同类型接口的测试卡进行一一测试，这种测试方法不仅比较复杂，而且购买测试设备成本也很高。

以WGBU的机种来说，一块主板一般有14个SATA或SAS接口，8至12个USB接口，2个1394接口，因此，目前主板是挂14个HDD，8至12个USB接口，2个1394测试卡，以进行测试，由于外接的硬盘和测试卡太多，摆放拥挤会导致散热不良，如果测试时间过长的话，有时就会出现测试档机，或者进不了系统等状况。

发明内容

鉴于上述问题，本实用新型提供了一种多功能测试卡，不仅提高测试速度和测试的稳定性，而且降低测试成本。

为了达到上述目的，本实用新型采用了如下的技术内容：一种多功能测试卡，用以测试主板上各种类型的接口，该测试卡主要包括：测试卡接口，其与主板的接口电性连接；接口控制器，其与测试卡接口连接；以及EEPROM，其通过CPLD与接口控制器连接，控制测试卡接口发送测试数据至主板上的接口，并将发送的测试数据与从主板接口接收的测试数据作比较，判断测试数据是否传送成功。

较佳的，本实用新型提供了一种多功能测试卡，其中，所述测试卡接口包括硬盘接口、1394接口及USB接口，所述接口控制器为与硬盘接口、1394接口及USB接口一一对应的硬盘接口控制器、1394接口控制器及USB接口控制器，所述EEPROM为与硬盘接口、1394接口及USB接口一一对应的硬盘接口EEPROM、1394接口EEPROM及USB接口EEPROM。

较佳的，本实用新型提供了一种多功能测试卡，其中，所述测试卡上设有电源转换器。

相较于先前技术，本实用新型提供了一种多功能测试卡，以代替目前测试主板不同类型的接口需挂设不同的测试卡或硬盘，不仅节省了空间，降低了测试成本，而且还有效地提高了测试的稳定性，缩短了测试时间。

附图说明

图1为本实用新型的方框示意图

图2为本实用新型的原理示意图

具体实施方式

请参照图1所示，为本实用新型的方框示意图。本实用新型所述的多功能测试卡10主要用以测试主板上不同类型的接口。

其中，所述多功能测试卡10主要包括CPLD101；测试卡接口102，其与主板上不同类型的接口(图中未示)一一电性连接；接口控制器103，其与测试卡接口102连接；以及EEPROM104，其通过CPLD101与接口控制器103连接，控制测试卡接口102发送测试数据至主板上的接口。

于本实施例中，所述主板待测试的不同类型的接口以SATA/SAS接口1021，1394接口1022及USB接口1023为例。

又，再请参照图2所示，为本实用新型的原理示意图。其中，所述SATA/SAS接口1021、1394接口1022、USB接口1023与主板待测试的SATA/SAS接口，1394接口及USB接口一一对应电性连接，所述SATA/SAS控制器1031、1394接口控制器1032、USB接口控制器1033与该SATA/SAS接口1021、1394接口1022、USB接口1023分别电性连接，此外，所述CPLD101一端分别与SATA/SAS控制器1031、1394接口控制器1032、USB接口控制器1033连接，其另一端分别与SATA/SAS接口EEPROM1041、1394接口EEPROM1042、USB接口EEPROM1043连接。

此外，所述多功能测试卡10利用主板提供的12V供电，且该多功能测试卡10上设有电源转换器(图中未示)，该电源转换器用以将主板提供的12V转换为5V或3.3V，以提供给该多功能测试卡10上不同类型的接口测试用。

首先以测试主板上的USB接口为例，以说明该多功能测试卡10如何对主板上的USB接口进行测试。