[实用新型]一种FIFO存储器控制电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及计算机技术领域，尤其涉及一种FIFO(First Input FirstOutput，先入先出队列)存储器控制技术。

背景技术

先入先出队列(FIFO)是集成电路芯片内部广泛使用的存储器单元，通常用于数据的缓存或者用于信号的跨时钟域传送。通常的FIFO如图1所示，是由写信号生成单元，读信号生成单元，控制信号生成单元和存储体组成。当有数据写入时，写信号生成单元将数据写入存储体，同时将其内部的写指针加1，指向下一个将要存储的数据位置；当要将数据读出时，读信号生成单元产生存储体读信号，将数据从存储体读出，同时将读指针加1，指向下一个将要读出的存储体数据位置。控制信号生成单元对写信号生成单元内的写指针和读信号生成单元内的读指针做出比较，产生FIFO的空、满等状态信号。

然而随着当前集成电路规模的不断增大，集成电路芯片的系统调试难度也越来越高。同时，FIFO在芯片内部的关键数据通路上往往担任至关重要的作用。在芯片调试过程中，往往希望读取FIFO内部缓存的数据进行芯片功能分析和调试。但是，如图1，由于FIFO对于其内部的存储体的读是在内部实现的，包括读地址计算也是内部提供。所以外部逻辑在使用FIFO时只能得到FIFO当前即将输出的数据，对其内部数据并不能任意读取。所以对调试带来极大的不便。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了解决现有FIFO中内部数据不能任意读取的缺陷，提出了一种新型的FIFO存储器控制电路，以增加FIFO存储器内部数据的任意读取功能，提高了集成电路芯片的在系统调试效率。

为实现上述发明目的，本实用新型提出一种FIFO存储器控制电路，包括写信号生成单元，读信号生成单元，控制信号生成单元及存储体，该FIFO存储器控制电路还包括：

调试信号生成单元：用于响应外部调试电路发出的调试读请求，并产生对所述存储体的读命令；

多路选择器：用于选择将读信号生成单元的读地址及调试信号生成单元的调试读地址送至存储体进行读取。

其中，所述调试信号生成单元将外部调试电路发出的调试读请求转化为调试读使能，并将该调试读使能连同调试读地址一起送入多路选择器进行选择读取。

所述调试信号生成单元还将存储体产生调试读答应及调试读数据信号传送至外部调试电路。

该控制电路的接口信号包括有调试读请求，调试读地址，调试读答应和调试读数据。

对FIFO存储器控制电路的控制方法包括如下步骤：

1)在芯片开始运行后，根据芯片的工作情况判断是否要进行FIFO的在线调试；如果需要，读信号生成单元停止对FIFO存储体的读操作；

2)外部调试电路发出调试读请求和调试读地址信号至调试信号生成单元；调试信号生成单元将调试读请求转化为调试读使能，并将该调试读使能及调试读地址信号送入多路选择器；

3)多路选择器从读信号生成单元的读地址和调试读地址中选出调试读地址送至FIFO存储体，存储体将产生的调试读应答信号传送给调试信号生成单元；

4)调试信号生成单元将调试读应答及调试读数据送到到外部调试电路后，转入步骤(1)。

其中，在所述步骤1)中，如果不需要进行FIFO的在线调试，则该FIFO存储器控制电路进行正常的读写操作。

所述步骤3)中存储体是在下一个时钟周期将产生的调试读应答信号通过读数据总线传送给调试信号生成单元。

所述的正常读写操作包括：

1)当有数据写入时，写信号生成单元将数据写入存储体，同时将其内部的写指针加1，指向下一个将要存储的数据位置；

2)当要将数据读出时，读信号生成单元产生存储体读信号，由二合一多路选择器从信号生成单元的读地址和调试读地址中选出信号生成单元的读地址送至FIFO存储体中，并将数据从存储体中读出，同时将读指针加1，指向下一个将要读出的存储体数据位置；

3)控制信号生成单元对写信号生成单元内的写指针和读信号生成单元内的读指针做出比较，产生FIFO的空、满等状态信号。

相对于现有技术，本实用新型提出的FIFO存储器控制电路弥补了当前通用FIFO不能实现在线调试的缺陷。通过使用本实用新型提出的电路和方法，在数字集成电路芯片中的FIFO使用本实用新型，可以在芯片运行过程中随时读取FIFO存储体中的数据，大大提高数字集成电路芯片的调试效率，降低芯片的维护成本。

附图说明

图1为现有通用的FIFO的结构框图；

图2为本实用新型提出的FIFO存储器控制电路的结构框图；