[实用新型]一种晶粒切割前排列晶片的基片无效
申请号: | 200920257815.2 | 申请日: | 2009-11-03 |
公开(公告)号: | CN201532940U | 公开(公告)日: | 2010-07-21 |
发明(设计)人: | 陈建民;陈建卫;陈磊;陈燕青 | 申请(专利权)人: | 河南鸿昌电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;B28D7/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 461000 河南省长*** | 国省代码: | 河南;41 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶粒 切割 排列 晶片 | ||
技术领域
本实用新型涉及半导体加工领域,具体地说是涉及一种晶粒切割前排列晶片的基片。
背景技术
在半导体加工过程中,需要将大片的晶片切割成小块所需要的晶粒,为了提高切割效率,要将多块晶片整齐的排列起来,多个晶片之间有间隔是切割好晶粒的质量保证,多个晶片排列是在基片中;现有技术中,基片是上部具有多个凹凸槽长方形块状的结构,侧向看就像梳子,晶片就安插在凹槽之中,这样的安插方式具有在切割过程中晶片容易松动的特点,影响切割效果。
发明内容
本实用新型的目的就是针对上述缺点,提供一种安插效果更好,晶片不易松动的晶粒切割前排列晶片的基片。
本实用新型的技术方案是这样实现的:晶粒切割前排列晶片的基片,包括基片本体,其特征是:基片本体上具有凸台,凸台上具有凹槽。
为了使晶片排列的更好,它还包括间隔体,所述的间隔体是片状结构或棒状结构。
本实用新型的有益效果是:这样的晶粒切割前排列晶片的基片具有使晶片排列更好,切割时不易脱落的特点。
附图说明
图1是本实用新型晶粒切割前排列晶片的基片的结构示意图
其中;1、基片本体 2、凸台 3、凹槽
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。
晶粒切割前排列晶片的基片,包括基片本体1,其特征是:基片本体1上具有凸台2,凸台2上具有凹槽3,如图1所示。
排列晶片时可以将晶片间隔地粘接凹槽3里。
为了使晶片排列的更好,它还包括间隔体,所述的间隔体是片状结构或棒状结构。
这是为了在粘接晶片的过程中用间隔体使晶片之间具有一定的间隔,在粘接牢固之后可以将间隔体拔出,本技术领域人员很容易实现。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河南鸿昌电子有限公司,未经河南鸿昌电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920257815.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:全球超远程控制及监控系统
- 下一篇:陶瓷金属卤化物灯电弧管
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造