[实用新型]辉光放电离子源质谱接口装置有效
申请号: | 200920246955.X | 申请日: | 2009-11-10 |
公开(公告)号: | CN201549467U | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
发明(设计)人: | 刘湘生;刘英;潘元海;李继东;王长华 | 申请(专利权)人: | 北京有色金属研究总院 |
主分类号: | H01J49/02 | 分类号: | H01J49/02;H01J49/26 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 朱丽华 |
地址: | 100088*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 辉光 放电 离子源 接口 装置 | ||
1.一种辉光放电离子源质谱接口装置,其特征在于:其由截取锥和离子出口锥组合构成,两者并置于辉光放电离子源与质谱仪离子光学系统之间;其中,截取锥位于近质谱仪离子光学系统一侧,其锥孔准直插放在质谱仪离子光学系统的轴心上;离子出口锥位于近辉光放电离子源一侧,距截取锥一定距离,离子出口锥锥孔亦准直插放在质谱仪离子光学系统的轴心上;离子出口锥锥孔与截取锥锥孔轴向同心,并同时与辉光放电离子源、质谱仪离子光学系统的轴心准直。
2.根据权利要求1所述的辉光放电离子源质谱接口装置,其特征在于:所述的截取锥锥孔端面厚度为0.2mm;锥孔孔径为0.9mm。
3.根据权利要求1所述的辉光放电离子源质谱接口装置,其特征在于:所述的离子出口锥锥孔孔径为0.3mm~6.0mm。
4.根据权利要求1所述的辉光放电离子源质谱接口装置,其特征在于:所述的离子出口锥锥孔端面与截取锥锥孔端面间的距离为6.0mm~1.0mm。
5.根据权利要求1所述的辉光放电离子源质谱接口装置,其特征在于:所述的离子出口锥和截取锥由纯镍材料或不锈钢材料制成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京有色金属研究总院,未经北京有色金属研究总院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920246955.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:玻璃钝化封装瞬态电压抑制二极管结构
- 下一篇:电流精确检测装置