[实用新型]一种集成全色和偏振超光谱探测能力的成像仪

权利要求书

1.一种集成全色和偏振超光谱探测能力的成像仪，其特征在于：所述集成全色和偏振超光谱探测能力的成像仪包括前置镜、视场光阑、准直镜、声光可调谐滤光器、转折镜、偏振超光谱成像系统以及全色成像系统；所述前置镜、视场光阑、准直镜、声光可调谐滤光器和转折镜依次设置于同一光路上；所述经转折镜转折后在一级衍射光的光路上设置有偏振超光谱成像系统以及经转折镜转折后在零级衍射光的光路上设置有全色成像系统。

2.根据权利要求1所述的集成全色和偏振超光谱探测能力的成像仪，其特征在于：所述偏振超光谱成像系统包括偏振超光谱探测器、偏振超光谱探测器控制处理系统以及经转折镜转折后在O光光路上的O光成像系统和在E光光路上的E光成像系统；所述O光成像系统与E光成像系统拼接后依次和偏振超光谱探测器以及偏振超光谱探测器控制处理系统相连。

3.根据权利要求2所述的可编程偏振超光谱成像仪，其特征在于：所述O光成像系统包括O光转折镜和O光成像镜；所述O光转折镜和O光成像镜依次设置于转折镜和偏振超光谱探测器之间。

4.根据权利要求3所述的可编程偏振超光谱成像仪，其特征在于：所述O光成像系统还包括O光光楔；所述O光光楔置于O转折镜和成像镜之间的准直光路中。

5.根据权利要求4所述的可编程偏振超光谱成像仪，其特征在于：所述O光光楔是单光楔或多个单光楔的组合。

6.根据权利要求2所述的可编程偏振超光谱成像仪，其特征在于：所述E光成像系统包括E光转折镜和E光成像镜；所述E光转折镜和E光成像镜依次设置于转折镜和偏振超光谱探测器之间。

7.根据权利要求6所述的可编程偏振超光谱成像仪，其特征在于：所述E光成像系统还包括E光光楔；所述E光光楔置于E转折镜和成像镜之间的准直光路中。

8.根据权利要求7所述的可编程偏振超光谱成像仪，其特征在于：所述E光光楔是单光楔或多个单光楔的组合。

9.根据权利要求1至8任一权利要求所述的集成全色和偏振超光谱探测能力的成像仪，其特征在于：所述全色成像系统包括全色成像镜、全色探测器以及全色探测器控制处理系统；所述全色成像镜和全色探测器依次设置在经转折镜转折后在零级衍射光的光路上；所述全色探测器和全色探测器控制处理系统电性连接。

10.根据权利要求9所述的集成全色和偏振超光谱探测能力的成像仪，其特征在于：所述成像仪还包括和声光可调谐滤光器电性连接的声光可调谐滤光器驱动器，所述声光可调谐滤光器驱动器是基于FPGA与DAC的结合结构或CPLD与DAC的结合结构的任意波形发生器。

11.根据权利要求10所述的集成全色和偏振超光谱探测能力的成像仪，其特征在于：所述偏振超光谱探测器和全色探测器是紫外探测器、可见光探测器或红外探测器；对于紫外探测器尤其是紫外CCD；对于可见光探测器，尤其是CCD、CMOS或EMCCD。