[实用新型]一种便携式在线显微分析装置无效
申请号: | 200920240276.1 | 申请日: | 2009-10-30 |
公开(公告)号: | CN201522419U | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 许荣昌;孙会朝 | 申请(专利权)人: | 莱芜钢铁股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N1/32 |
代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 王绪银 |
地址: | 271104 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 便携式 在线 显微 分析 装置 | ||
技术领域
本实用新型发明涉及一种用于检测金属组织、金属夹杂物、金属裂纹的便携式在线显微分析装置,属于金属检测分析设备技术领域。
背景技术
针对大型锻件、连铸坯、轧辊、大型设备关键部件、各种大型机械、高层建筑、大吨位船舶、大型桥梁结构、高空部件等的表面显微分析存在困难,比如大型锻件、连铸坯的夹杂物、晶粒度分析,轧辊、轴承等大型设备关键部件的裂纹、失效分析,高空设备的缺陷分析等,取样进行实验时分析不但周期长,而且取样困难,在线显微分析不损害原有材料的形状、快捷方便,对生产现场提高产品质量、快速定位质量事故、调整工艺参数很有帮助。本发明通过集成与创新,开发了用于生产现场的便携式在线显微分析装置。目前,市场上存在的现场便携式显微镜体积大,部件分离,应用不便。经检索:200320105265.5公开了一种平面磨样机。该实用新型公开一种平面磨样机,属于金属检验试样加工设备改进,主要用于直读光谱分析,或者金相显微分析制备试样,可以为炉前快速取样制样的磨平、磨光、抛光提供便利条件。200610000941.0公开了一种显微图像连续获取装置。该发明涉及一种显微图像连续获取装置,其包括显微装置、数码成像系统、箱体以及控制和分析用计算机,所述显微装置和数码成像系统设置在所述箱体内,所述显微装置设有稳光源和移动式载物台,所述移动式载物台带有微位移移动机构,所述数码成像系统同所述显微装置连接或其成像元件位于所述显微装置的光路上,所述计算机自动控制各部分的动作,并自动对数码图像信号进行分析和结果显示。
发明内容
针对目前显微镜应用不便,不能现场一体化应用的缺点,本实用新型提供一种集制样、抛光、腐蚀、微观结构显现、微观结构分析功能为一体的便携式在线显微分析装置。
一种便携式在线显微分析装置,包括抛磨装置和显微观测与分析装置两部分,抛磨装置和显微观测与分析装置安装在同一个操作平台上;抛磨装置包括电机、软轴传动装置和抛磨装置,软轴传动装置与电机传动轴连接,抛磨装置与软轴传动装置连接;显微观测与分析装置主要包括显微镜,显微镜设置在一个由电磁铁构成的多向磁场底座上,显微镜的目镜通过电脑接口与电脑连接。
所述的抛磨装置的手柄部位上设有垂直插孔、水平插孔和备件插孔,抛磨装置的抛磨部分设有微砂轮及抛光布轮。
所述的显微观测与分析装置包括显微定位部分、显微光路系统、数据传输部分、数据分析部分、数据存储部分。
所述的电脑接口是USB接口。
所述的多向磁场底座为两条平行多向磁场底座,多向磁场底座包括磁场开关和电磁铁,开关位于底座上部与电磁铁通过导线相连。
本实用新型实现了抛磨、显微分析、数据采集与存储、数据分析、报告生成一体化,设备体积小,携带方便,操作简单,便于现场显微组织与缺陷分析。
附图说明:
图1为本实用新型中抛磨系统装置结构框图。
图2为本实用新型中显微观测与分析系统装置图。
其中,1、磨头或砂轮,2、软轴传动装置,3、电机,4、外接电源接口,5、USB接口,6、镜身,7、微调钮,8.电磁铁,9、物镜,10、底座及电磁开关,11、手柄及内置电池,12、目镜,13、电脑接口,14、电脑。
具体实施方式
本实用新型是针对大型锻件、连铸坯、轧辊、大型设备关键部件、各种大型机械、高层建筑、大吨位船舶、大型桥梁结构、高空部件等的表面需要进行显微分析,但是存在取样困难的部位进行显微分析。下面具体说明本实用新型设备的具体实施方式:
1.将图1所示的抛磨系统装置外接电源接口4与电源相连接。
2.对需要显微分析的部位利用图1所示的抛磨系统装置进行抛光处理,分别采用粒度级别从粗到细的微砂轮进行打磨,最后使用抛光布轮进行抛光,具体步骤和光洁度要求与实验室制显微分析样相同。
3.抛光完毕后,将图2所示显微观测与分析系统装置放置于抛光部位,目镜9必须对准抛光良好的部位,打开磁场开关,利用该装置底部的平行多向磁场底座的电磁铁8固定在抛光部位。
4.打开图2所示显微观测与分析系统装置中配置的电脑14,可以在电脑屏幕上直接看到所需分析部位的显微图,通过更换目镜12和调节微调钮7可调节放大倍数以及清晰度。
5.利用分析软件可以对所需分析部位的夹杂物、晶粒度、裂纹、失效以及缺陷等进行自动分析。
6.保存显微图像及分析结果,可直接打印输出。
7.更换其它位置进行显微分析,重复上述1-5的操作步骤。
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