[实用新型]嵌入式在线调试系统无效

专利信息
申请号: 200920222858.7 申请日: 2009-09-21
公开(公告)号: CN201607721U 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 刘明;周庆华;宋东剑;肖洋 申请(专利权)人: 北京旋极信息技术股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F13/38
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚
地址: 100083 北京市北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 嵌入式 在线 调试 系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及集成电路领域,具体而言,涉及一种嵌入式在线调试系统。

背景技术

目前,嵌入式应用程序的编写通常是在个人计算机上完成,而嵌入式应用程序的运行环境为嵌入式应用系统,在线调试系统将个人计算机和嵌入式系统连接起来,嵌入式应用程序的开发人员通过在线调试系统对运行在嵌入式系统上的嵌入式应用程序进行调试。为了便于嵌入式应用程序的调试,嵌入式系统的处理器通常都具有片上调试逻辑,在线调试系统通过调试接口访问片上调试逻辑实现程序调试功能。

从嵌入式应用程序在线调试系统的硬件设计来看,现有的在线调试系统分为模块化设计和一体化设计两种。

发明人发现现有技术中模块化设计的在线调试系统结构较复杂;而一体化设计的在线调试系统支持的处理器较少。

实用新型内容

本实用新型旨在提供一种嵌入式在线调试系统,能够解决现有技术中模块化设计的在线调试系统结构较复杂;而一体化设计的在线调试系统支持的处理器较少的问题。

在本实用新型的实施例中,提供了一种嵌入式在线调试系统,包括:主机模块和调试模块,其中,调试模块连接在主机模块和目标调试嵌入式系统之间,主机模块包括用于实现主机模块和调试模块之间可配置连接的FPGA(Field-Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)电路单元。

在本实施例中,通过在一体化设计的主机模块中采用可配置连接的FPGA电路单元,当所调试的嵌入式系统的处理器不同时,FPGA电路单元可以对应不同的处理器使用相应的逻辑数据,使得所输出的信号与所调试的处理器的接口的信号定义相对应,而不需要作任何硬件的改动,所以克服了现有技术中模块化设计的在线调试系统结构较复杂;而一体化设计的在线调试系统支持的处理器较少的问题,进而达到了模块化设计的可扩展性和一体化设计的简单性有机融合的效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,构成本申请的一部分,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:

图1示出了根据本实用新型一个实施例的嵌入式在线调试系统框图;

图2示出了根据本实用新型一个实施例的嵌入式在线调试系统调试模块结构示意图;

图3示出了根据本实用新型一个实施例的嵌入式在线调试系统主机模块结构示意图;

图4示出了根据本实用新型一个实施例的嵌入式在线调试系统结构示意图。

具体实施方式

下面将参考附图并结合实施例,来详细说明本实用新型。

图1示出了根据本实用新型一个实施例的嵌入式在线调试系统,包括:主机模块10和调试模块20,其中,调试模块20连接在主机模块10和目标调试嵌入式系统之间,主机模块包括用于实现主机模块和调试模块之间可配置连接的FPGA电路单元102。

在本实施例中,通过在一体化设计的主机模块中采用可配置连接的FPGA电路单元,当所调试的嵌入式系统的处理器不同时,FPGA电路单元可以对应不同的处理器使用相应的逻辑数据,使得所输出的信号与所调试的处理器的接口的信号定义相对应,而不需要作任何硬件的改动,所以克服了现有技术中模块化设计的在线调试系统结构较复杂;而一体化设计的在线调试系统支持的处理器较少的问题,进而达到了模块化设计的可扩展性和一体化设计的简单性有机融合的效果。

优选地,主机模块还包括:USB(Universal Serial Bus,通用串行总线)接口电路单元、存储器和中央控制单元,其中,USB接口电路单元,用于主机模块与PC端的连接;USB接口电路单元、存储器、中央控制单元和FPGA电路单元通过总线相连接,使得各个单元之间可以在中央控制单元的控制下实现相互间的数据、信号的传输。

优选地,调试模块包括:DB25连接器、电平转换单元、调试电缆和IDC20连接器,其中,DB25连接器,位于调试电缆的一端,通过电平转换单元与调试电缆相连,用于与主机模块的DB25接口相连接;电平转换单元,位于DB25连接器与调试电缆之间,用于将DB25连接器所输出信号进行电平转换,然后输出至调试电缆;IDC20连接器,位于调试电缆的另一端,用于与目标调试嵌入式系统的JTAG(Joint Test Action Group,联合测试行动组织)接口相连。通过JTAG接口,使用了ARM处理器集成的Embedded-ICE(in-circuit emulator,集成电路仿真器)调试逻辑,调试模块可以通过插拔的方式进行更换。

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