[实用新型]一种抛光打磨组件有效

专利信息
申请号: 200920214337.7 申请日: 2009-11-27
公开(公告)号: CN201537581U 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 裴民;刘朋伟;菲迪克;李汝嘉 申请(专利权)人: 德尔福电子(苏州)有限公司
主分类号: B05C21/00 分类号: B05C21/00
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 林君如
地址: 215126 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 抛光 打磨 组件
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种喷涂组件设备,尤其是涉及一种抛光打磨组件。

背景技术

目前,国内高光喷涂应用技术的一次合格率只有50%或更低,报废率高,导致原材料浪费多和设备利用率低。另外,喷涂工艺会有危废排放,生产效率低直接导致污染排放多,造成环境维护重担。

发明内容

本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种提高合格率、节约原料、降低环境负担的抛光打磨组件。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现:

一种抛光打磨组件,其特征在于,该组件包括正常喷漆流程后检测组件,分选打磨组件及抛光组件,所述的检测组件一边连接分选打磨组件,另一边连接抛光组件。

所述的检测组件包括目检系统。

与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:

(1)提高了产品的合格率;

(2)节约了原材料及设备能力;

(3)降低了环境负担。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图;

图2为使用本装置的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。

实施例

高光喷漆抛光打磨组件,其结构如图1所示,该组件包括正常喷漆流程后检测组件,分选打磨组件及抛光组件,检测组件一边连接分选打磨组件,另一边连接抛光组件,该检测组件为目检系统。

使用该组件的流程图如图2所示,检测组件连接在正常喷涂流程之后,通过检测组件挑选出合格品,小颗粒不合格产品经抛光组件抛光,然后再通过检测组件检测,不合格品经过分选打磨组件进行打磨,除去样品上的第二层面漆,然后再次进入喷漆工艺流程,经检测组件检测得到合格产品,不合格产品经过抛光组件及检测组件进行检样合格,通过上述3个步骤,使样品外观品质达到要求。

经检测组件进行第一步检测出的其他大颗粒不合格样品经过分选打磨组件进行打磨,除去样品上的第二层面漆,然后再次经检测组件检测得到合格产品,不合格产品经过抛光组件及检测组件进行检样合格,通过上述2个步骤,使样品外观品质达到要求。

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