[实用新型]动态偏振光散射颗粒测量装置无效
| 申请号： | 200920214170.4 | 申请日： | 2009-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN201622228U | 公开（公告）日： | 2010-11-03 |
| 发明（设计）人： | 杨晖;郑刚;戴曙光 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 动态 偏振光 散射 颗粒 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种动态偏振光散射颗粒测量装置，包括样品池(5)，其特征在于，还包括激光器(1)、起偏器(2)、二分之一波片(3)、透镜(4)、孔径光阑(6、8)、检偏器(7)、光电倍增管(9)、数字相关器(10)、微机(11)，激光器(1)发射出的激光依次进入起偏器(2)、二分之一波片(3)、透镜(4)组成的入射光路，由透镜(4)聚焦输出的光照射在样品池(5)内的颗粒样品上，被激光束照射的样品颗粒产生的垂直于入射激光方向的散射光依次进入孔径光阑(6)、检偏器(7)、孔径光阑(8)组成接收光路，最后进入光电倍增管(9)将光信号转换成电信号输出进入数字相关器(10)进行计数，最后数据送入微机(11)内处理。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学，未经上海理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920214170.4/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
