[实用新型]集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，特别涉及集成电路芯片测试技术领域，具体是指一种集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构。

背景技术

随着社会的不断进步，科技的不断发展，各行各业中越来越多地使用集成电路，集成电路工业已经成为现代电子工业中一个非常重要的领域。而其中最为重要的技术，除了设计、制造之外，就是测试和封装工艺，尤其是对于数字基带芯片来说，在早期开发时期，通常会设计硬件测试平台来对芯片进行各种测试和验证。

由于芯片本身尚不成熟，外管脚定义会在不同的阶段发生一定的变化，相应的，对其进行测试的硬件测试平台也必须做出一定的改变以应付这种变化。但是数字基带芯片早期开发时期的这种硬件测试平台由于系统结构复杂，价格很昂贵，如果对应于一版的芯片就要重新开发硬件测试平台，无疑会大大增加成本和开发周期。

在电路调试板上，一对走线的发送接收功能在定义好后就较难做更改。请参阅图1所示，若一组并行线要改成交叉线就只有采用割线，飞线的方式，费时费力，同时影响了整体测试性能和测试准确度。这样就给集成电路封装测试的工作带来了很大的不便，影响了集成电路的生产效率。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种能够保证在集成电路芯片外管脚信号定义发生变化时无需重新改变任何硬件板结构就可实现并行线和交叉线的转换、结构简单实用、操作快捷方便、工作性能稳定可靠、适用范围较为广泛的集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构。

为了实现上述的目的，本实用新型的集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构具有如下构成：

该集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构，包括设置于测试平台上的第一信号走线、第二信号走线、第三信号走线和第四信号走线，其主要特点是，所述的测试平台上还设置有分别与所述的第一信号走线、第二信号走线、第三信号走线和第四信号走线位置相对应的第一信号端子、第二信号端子、第三信号端子和第四信号端子，所述的第一信号走线与所述的第一信号端子相连接，所述的第二信号走线与所述的第二信号端子相连接，所述的第三信号走线与所述的第四信号端子相连接，所述的第四信号走线与所述的第三信号端子相连接，所述的转换结构中还包括第一选择连接元件和第二选择连接元件，所述的第一选择连接元件将所述的第一信号端子选择性地与第二信号端子或者第三信号端子相连通，所述第二选择连接元件将所述的第四信号端子选择性地与第三信号端子或者第二信号端子相连通。

该集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构中的第一信号走线和第一信号端子均位于左上位置，所述的第二信号走线和第二信号端子均位于右上位置，所述的第三信号走线和第三信号端子均位于左下位置，所述的第四信号走线和第四信号端子均位于右下位置。

该集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构中的第一信号端子、第二信号端子、第三信号端子和第四信号端子均可以为焊盘。

该集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构中的第一选择连接元件和第二选择连接元件均可以为连接电阻。

该集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构中的第一信号端子、第二信号端子、第三信号端子和第四信号端子均也可以为跳线插针。

该集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构中的第一选择连接元件和第二选择连接元件均也可以为跳线帽。

采用了该实用新型的集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构，由于其中采用了四个信号端子和二个选择连接元件，同时第一选择连接元件将第一信号端子选择性地与第二信号端子或者第三信号端子相连通，第二选择连接元件将第四信号端子选择性地与第三信号端子或者第二信号端子相连通，从而保证了在集成电路外管脚信号定义发生变化时无需重新设计开发任何硬件板就可实现并行线和交叉线的转换，不仅设计巧妙，结构简单实用，而且操作快捷方便，工作性能稳定可靠，从而在集成电路芯片早期开发时期就能够提高性能，增加可测试性，节省了成本，节省开发周期，适用范围较为广泛，给集成电路封装测试工作带来了极大的便利。

附图说明

图1为现有技术中常规的并行走线和交叉走线的方式示意图。

图2为本实用新型的集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构实现并行走线的电路结构示意图。

图3为本实用新型的集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构实现交叉走线的电路结构示意图。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本实用新型的技术内容，特举以下实施例详细说明。