[实用新型]磁片表面缺陷检测设备

权利要求书

1.一种磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其包括有工作台，所述工作台上设置有可围绕自身中轴线旋转的第一基座以及第一支架；其中所述第一基座与一第一电机驱动装置连接，并可在其驱动下进行旋转；且所述基座上还设置有若干存储槽；所述第一支架上设置有检测用第一照相机，其用于为待检测的放置于第一基座收容槽内的待检测磁片进行拍照以获得待测磁片的表面图像信息。

2.根据权利要求1所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述第一支架上还设置有灯光装置，其设置于所述检测用第一照相机的下方。

3.根据权利要求1所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述工作台上还设置有第二支架，其上设置有检测用第二照相机。

4.根据权利要求3所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述第二支架上还设置有条形灯光装置，其设置于所述检测用第二照相机的下方。

5.根据权利要求1所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其其还包括有第二基座，其上设置有转动盘和设置于其下的固定盘；其中所述转动盘与一第二电机驱动装置连接，并可在其驱动下进行旋转，且所述转动盘朝向下的一面上设置有若干用于收容磁片的收容槽；而所述第二基座的下方还设置有检测用的第三照相机。

6.根据权利要求5所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述第一基座与第二基座在空间上部分重叠，而重叠部分，所述第二基座的转动盘位于所述第一基座的上方。

7.根据权利要求5所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述第二基座的转动盘上还设置有真空吸附装置，其用于将放置在所述第一基座收容槽内的待测磁片吸附到所述第二基座转动盘的收容槽内。

8.根据权利要求5所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述第二基座的下方还设置有第四检测用照相机。

9.根据权利要求1所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述工作台上还设置有送料装置。

10.根据权利要求1所述的磁片表面缺陷检测设备，其特征在于，其中所述工作台上还设置有次品存放装置以及待定品存放装置。