[实用新型]一种新型数字式动态光弹性仪试验系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种动态光弹性仪试验系统，尤其是涉及一种新型数字式动态光弹性仪试验系统。 

背景技术

动态光弹性方法已被证明是研究材料动态性能以及结构动态响应的有效方法，它具有全场性、直观性的特点，可以方便的得到结构的应力集中系数和动态应力分布情况，能够清晰的观察应力波的传播情况。高弹模的光弹性材料中受到冲击载荷作用时，其应力波速度可达到2000m/s~3000m/s，这就要求照相机有很短的曝光速度及高速度的记录移动装置。传统动态光弹性试验大多采取多火花动态光弹性仪进行光弹条纹图像采集。多火花动态光弹性仪不足之处是只能拍摄底片且后续处理繁琐，不能进行计算机图像采集和处理，此外火花光源和相机镜头不在主光轴上，会产生像差。 

发明内容

本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种结构简单、使用方便的新型数字式动态光弹性仪试验系统。 

本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现： 

一种新型数字式动态光弹性仪试验系统，其特征在于，该系统包括光源、物镜、准直镜、偏振片一、四分之一波片一、用于放置被测物的加载装置、四分之一波片二、偏振片二、聚光镜、高速CMOS摄影系统、同步触发线、计算机控制系统，所述的光源对准物镜，该物镜的出光口对准准直镜，该准直镜的出光口对准偏振片一，该偏振片一的出光口对准四分之一波片一，该四分之一波片一的出光口对准被测物，该被测物的出光口对准四分之一波片二，该四分之一波片二的出光口对准偏振片二，该偏振片二的出光口对准聚光镜，该聚光镜对准高速CMOS摄影系统，该高速CMOS摄影系统与计算机控制系统通过导 线连接，所述的高速CMOS摄影系统与加载装置、被测物分别通过同步触发线连接。 

所述的光源为半导体激光光源。 

所述的物镜的放大倍率为6.5倍。 

所述的准直镜、偏振片一、四分之一波片一、四分之一波片二、偏振片二的直径都为300mm。 

所述的聚光镜的直径为50mm。 

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点： 

1、使用高速CMOS相机系统，实时采集速度可达100000帧/秒，且采集时间长； 

2、应用于光弹性动态应力测试技术中，能实时采集冲击载荷下的试件等差线条纹的数字图像，方便后续图像处理； 

070414009附图说明

图1为本实用新型一种新型数字式动态光弹性仪试验系统的结构示意图。 

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。 

具体实施方式

实施例 

如图1所示，一种新型数字式动态光弹性仪试验系统，该系统该系统包括光源1、物镜2、准直镜3、偏振片一4、四分之一波片一5、用于放置被测物的加载装置6、四分之一波片二7、偏振片二8、聚光镜9、高速CMOS摄影系统10、同步触发线11、计算机控制系统12，所述的光源1对准物镜2，该物镜2的出光口对准准直镜3，该准直镜3的出光口对准偏振片一4，该偏振片一4的出光口对准四分之一波片一5，该四分之一波片一5的出光口对准被测物13，该被测物13的出光口对准四分之一波片二7，该四分之一波片二7的出光口对准偏振片二8，该偏振片二8的出光口对准聚光镜9，该聚光镜9对准高速CMOS摄影系统10，该高速CMOS摄影系统10与计算机控制系统12通过导线连接，所述的高速CMOS摄影系统10与加载装置6、被测物13分别通过同步触发线11连接。所述的光源1为半导体激光光源。所述的物镜2的放大倍率为6.5倍。所述的准直镜3、偏振片一4、四分之一波片一5、四分之一波片二7、偏振片二8的直径都为300mm。所 所述的光源1为半导体激光光源。所述的物镜2的放大倍率为6.5倍。所述的准直镜3、偏振片一4、四分之一波片一5、四分之一波片二7、偏振片二8的直径都为300mm。所述的聚光镜9的直径为50mm。 

选取某结构部件光弹性模型作为被测物13，今将高速CMOS摄影系统10置入光路中，拍摄动态光弹性图像信息。分别采集到340微秒、490微秒、640微秒、790微秒的图像。