[实用新型]引线框架的测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，尤其涉及一种引线框架的测试夹具。

背景技术

引线框架(Lead frame)是封装厂重要的原材料之一，它的标准与否会直接影响到集成电路(IC)的良率和稳定性。因此如何高效准确地判断引线框架是否标准显得尤其重要。目前通常采用手动显微镜(如High Power Microscope，STM6)检查引线框架。检查的时候，需要采用引线框架的测试夹具。现有的引线框架的测试夹具结构，包括底板和外框。所述外框与底板连接，并且，所述外框位于所述底板的上方。所述外框上对应引线框架上的各个芯片单元位置开有相应的矩形槽孔。使用的时候，首先，将外框和底板分离。接着，将引线框架放置于所述底板上。然后，将外框覆盖在装有引线框架的底板上，使得矩形槽孔与引线框架的单元相对应。最后，通过螺栓将外框与所述底板连接。但是这种引线框架的测试夹具只适用于手动显微镜。在检查引线框架时，需要手动选取测量点，手动调整焦距(focus)量测数据，并且还要手动保存数据。由于所有动作都是手动完成，所以存在下列不足：1.手动选取量测点，取点数量受到限制且不易统一；2.手动调整焦距量测数据，因人不同造成数据精准度不同；3.手动保存数据，烦琐；4.耗时长，效率低；以上这种手动检查引线框架的方法不仅浪费大量的人力和时间，且检查过程非常烦琐。因此，改进检查引线框架的方法和提供一种快速、准确地监测引线框架的设备显得非常迫切。

在现有的资源中有一台三维视频显微镜(VIDEO CMM-II 3D Measurement)也是用于量测零件的，同时该设备在建好程序(program)后可以自动量测和保存数据，也可以手动量测，而且该三维视频显微镜倍率也能达到我们检查引线框架的要求。但是要使用这种三维视频显微镜检查引线框架需要具备两个条件：一是需要相应的程序，二是需要固定引线框架的夹具。现有的夹具存在以下不足：1.无法量测引线框架的长度(length)、宽度(Width)、引线框架内长度方向上相邻单元的间隔(unit pitch)、引线框架内长度方向上首尾单元之间的间隔(cumulative strip pitch)和孔径(hole diameter)；2.厚度太厚，重量太重且无法使用背光。

综上所述，如何提供一种合适的测试夹具使之适用于三维视频显微镜，以实现引线框架的全面准确自动测量是本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种引线框架的测试夹具，其可以配合三维视频显微镜实现全面、准确地测量引线框架，从而有效提高引线框架的检查效率。

为了达到上述的目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种引线框架的测试夹具，包括外框和底板，所述外框与所述底板连接并位于所述底板的上方，所述外框是由两条长边和两条短边连接组成的长方形框体，所述长方形框体由隔条分隔出若干矩形的外框槽孔，所述长边的内侧靠近两端处分别设有第一矩形缺口，所述短边的内侧靠近中心处分别设有第二矩形缺口。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框槽孔中靠近各短边的两个相邻的外框槽孔竖向中心线分别位于各自对应的所述第一矩形缺口的两端内侧。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框槽孔沿所述长边方向排成一排，相邻外框槽孔之间由竖向隔条隔开。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框槽孔中靠近各短边的两个相邻的外框槽孔之间相互连通。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框槽孔沿所述长边方向分成两排，相邻排外框槽孔之间由横向隔条隔开，排内相邻的外框槽孔之间由竖向隔条隔开。

在上述引线框架的测试夹具中，每排外框槽孔中靠近各短边的两个相邻的外框槽孔之间相互连通。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框槽孔均匀分布。

在上述引线框架的测试夹具中，所述底板开有与各所述外框槽孔大小位置相对应的底板槽孔。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框和底板通过螺栓连接。

综上所述，本实用新型引线框架的测试夹具通过在所述外框的两长边的内侧靠近两端处分别设有第一矩形缺口，以便于测量引线框架内相邻单元的间隔、引线框架内长度方向上首、尾单元之间的间隔、引线框架的宽度以及引线框架的孔径；通过在所述短边的内侧靠近中心处分别设有第二矩形缺口，以便于测量引线框架的长度。从而可以配合三维视频显微镜，实现全面准备地测量所述引线框架。

另外，在所述测试夹具的底板上对应引线框架每个单元的位置开槽孔，不但可以减轻夹具的自重，还可以使用背光，充分利用光源。