[实用新型]显示缺陷自动检测装置无效

专利信息
申请号: 200920191023.X 申请日: 2009-08-03
公开(公告)号: CN201489795U 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 李贵彤;张生高 申请(专利权)人: 俞权锋
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 322118 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 显示 缺陷 自动检测 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种显示器件检测装置,尤其指一种显示缺陷自动检测装置。

背景技术

各种显示产品如LCD、PDP、OLED、CRT、LED等越来越多地应用于人们生活的各个领域,成为人们获取信息的主要手段之一。

在各种显示产品生产制造过程中,因为设备、工艺、认为因素会导致不良显示产品的产生,如LCD显示器件生产过程中会产生色差、亮点、暗点、断线、Mura(母拉)等显示缺陷。这些显示缺陷必须及时挑选出来,以免浪费后工序的原材料、人工成本,以及可能产生的质量事故,而企业造成无可挽回的巨大损失。

仍以LCD显示器件为例,由于人们对显示效果的追求越来越高,需要将微小的现实缺陷在生产制造过程中挑选出来。现在的面板制造厂都安排经验丰富的质量人员仔细逐片检查每一片LCD面板是否存在显示缺陷。但随着显示器件分辨率越来越大,像素越来越小,像暗点、亮点等显示缺陷一般不易看出并挑选出来,而且人员水平或疲劳都容易漏检显示缺陷产品,继续流到制造的后续工序,这样浪费了后工序大量的IC、FPC、偏光片、背光源等,增加了生产成本,而且影响产品品质与企业形象。

发明内容

鉴于现有技术中的上述问题,本实用新型所要解决的问题是提供一种显示缺陷自动检测装置,方便、快捷、准确地检测出有显示缺陷的产品,并挑选出来,以达到降低生产成本的目的。

为了实现上述目的,本实用新型提供了一种显示缺陷自动检测装置,包括:获取被测显示器件所显示图像数据的图像获取装置、分析处理所述图像获取装置获取的图像数据的数据分析处理装置、显示所述数据分析处理装置分析处理结果的显示装置。

所述被测显示器件为LCD显示器件、PDP显示器件、OLED显示器件、LED显示器件或CRT显示器件。

作为优选,所述图像获取装置为CCD摄像机或CMOS摄像机。

作为优选,所述数据分析处理装置包括数据接收单元、标准数据存储单元、数据分析对比单元、输出单元,所述数据分析对比单元判断所述数据接收单元接收的数据与所述标准数据存储单元中的相应数据是否相同,所述输出单元接收所述分析对比单元的判断结果。

作为优选,还包括在发现显示缺陷时报警的报警装置,所述报警装置为声光报警器。

作为优选,所述显示装置为LCD显示器、PDP显示器、OLED显示器、LED显示器或CRT显示器。

作为优选,所述显示装置的显示结果包括显示缺陷种类、显示缺陷严重程度和显示缺陷相对坐标位置,所述显示缺陷种类进一步包括色差、亮点、暗点、断线、Mura(母拉)。

作为优选,还包括驱动被测显示器件的驱动装置,所述驱动装置进一步包括放置被测显示器件的测试单元、与所述测试台连接的显示驱动单元。

本实用新型具有以下有益效果:减少了人为因素,方便、快捷、准确地自动检测出有显示缺陷的产品,节约了成本,提高了产品品质。而且能同时检测多片产品,提高了生产效率。

附图说明

图1为本实用新型的显示缺陷自动检测装置实施例一的结构示意图;

图2为本实用新型的显示缺陷自动检测装置实施例二的结构示意图;

图3为本实用新型的显示缺陷自动检测装置实施例三的结构示意图;

图4为本实用新型的显示缺陷自动检测装置实施例四的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图详细说明本实用新型的优选实施例。

实施例一:

如图1所示本实用新型的显示缺陷自动检测装置的结构示意图,包括获取被测显示器件所显示图像数据的图像获取装置11、分析处理图像获取装置11获取的图像数据的数据分析处理装置12、显示数据分析处理装置12分析处理结果的显示装置13。

所述被测显示器件为LCD显示器件、PDP显示器件、OLED显示器件、LED显示器件或CRT显示器件。

所述显示装置为LCD显示器、PDP显示器、OLED显示器、LED显示器或CRT显示器。

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