[实用新型]物件外表面的取像装置无效

专利信息
申请号: 200920168532.0 申请日: 2009-07-31
公开(公告)号: CN201477057U 公开(公告)日: 2010-05-19
发明(设计)人: 黄炜展 申请(专利权)人: 三星科技股份有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G02B7/182
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李树明
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 物件 外表 装置
【说明书】:

【技术领域】

本实用新型涉及一种取像装置,特别是涉及一种用于检测例如螺丝、螺帽等物件的外表面的取像装置。

【背景技术】

一般螺丝、螺帽等锻造部品在制造时,需要经过一些冲击、切削等加工步骤,使该等物件成品上可能会因为加工过程而产生破损、龟裂。为了确保出货品质,此类型的物件在出厂之前通常会进行各项检测,其中一项检测是检测该物件的外表面的完整性。

参阅图1、2,为中国台湾专利第M355393号专利案所揭露的检测装置1,用于检测一待检测物件10的外表面,并包含:一供该待检测物件10摆放并且可透光的承载盘11、一设置在该承载盘11的下方的发光模组12、一设置在该承载盘11的上方的反射模组13,以及一个位于该反射模组13的上方的影像撷取模组14。其中,该反射模组13包括一个具有一底盘130的中空柱体131、一个设置在该中空柱体131内并围绕界定出一空间的第一反射镜132,以及一个位于该第一反射镜132的内部空间的第二反射镜133。该第一反射镜132约呈上窄下宽的中空六角柱状,并包括六个都朝内但彼此延伸方向不同的第一反射面134。该第二反射镜133为六角锥状,并包括六个朝向该等第一反射面134但彼此延伸方向不同的第二反射面135。

检测时,下方的发光模组12发出的部分光线穿透该承载盘11,并投射至该待检测物件10的外表面,光线被反射到该等第一反射面134,而第一反射面134再将光线反射到该等第二反射面135,使第二反射镜133的表面形成该待检测物件10的外表面影像,该影像撷取模组14就可以撷取到成像于该第二反射镜133上的待检测物件10的影像,达到检测目的。

当然,市面上还有其它不同型态的检测装置,在此不再说明。有鉴于物件外表面检测的重要性,而且为了提供消费大众多样化的选择,本案提供另一种创新型态的检测装置,达到方便及快速检测的目的。

【实用新型内容】

本实用新型的目的是在提供一种结构创新,且检测方便快速的物件外表面的取像装置。

本实用新型物件外表面的取像装置,用于检测一个待检测物件的外表面,并包含:一将光线投射到该待检测物件的光源、一个位于该待检测物件的上方的第一反射单元、一个位于该第一反射单元的上方的第二反射单元,以及一个位于该第二反射单元的上方的取像单元。

该第一反射单元绕一中心轴线而设置,并包括至少一个界定出一第一光通空间的第一反射镜,该第一反射镜具有一个朝向该第一光通空间的第一反射面,该第一反射面将该待检测物件所反射而来的光线再度反射。该第二反射单元绕该中心轴线而设置,并包括至少一个界定出一第二光通空间的第二反射镜,该第二反射镜具有一个朝向该第二光通空间的第二反射面,该第二反射面将该第一反射面反射而来的光线再度反射。该取像单元撷取成像于该第二反射面上的待检测物件的影像。

本实用新型的有益效果在于:借由该等第一、二反射单元将光线反射至该取像单元,使该取像单元可以撷取成像于该第二反射单元上的待检测物件的影像,达到检测目的,而且上述创新结构具有检测快速、方便的优点。

【附图说明】

图1是一种已知检测装置的剖视分解图;

图2是该检测装置的一反射模组的立体局部剖视图;

图3是一立体分解图,显示本实用新型物件外表面的取像装置的一第一较佳实施例;

图4为该第一较佳实施例的组合侧视图;

图5是该第一较佳实施例的部分元件的剖视示意图,同时显示光线的行进路径;

图6是一立体分解图,显示本实用新型物件外表面的取像装置的一第二较佳实施例;

图7为该第二较佳实施例的组合侧视图;

图8是该第二较佳实施例的部分元件的剖视示意图,同时显示光线的行进路径。

【具体实施方式】

下面结合附图及实施例对本实用新型进行详细说明,要注意的是,在以下的说明内容中,类似的元件是以相同的编号来表示。

参阅图3、4、5,本实用新型物件外表面的取像装置的第一较佳实施例,用于检测一待检测物件20的外表面,本实施例的待检测物件20为一螺帽,但是实施时不限于此,例如也可以为螺栓或其它物件,而且该待检测物件20是位于一个输送装置2上,该输送装置2如图3箭头所示方向,将待检测物件20传送到该取像装置的下方检测后,再将检测完成的物件传送离开,并将下一物件输送至检测位置。所述取像装置包含:一支架3、一光源4、一第一反射单元5、一第二反射单元6、一反射镜定位座7,以及一取像单元8。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星科技股份有限公司,未经三星科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920168532.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top