[实用新型]低频脉冲涡流探头

说明书

所属技术领域

本实用新型涉及一种低频脉冲涡流探头，特别用于各种工件表面下缺陷的检测工作。

背景技术

涡流检测作为五大常规无损检测方法之一，在各种行业中应用非常广泛。最近，随着人们对涡流检测技术的深入了解及计算机技术、仪器仪表技术和数字信号处理技术的发展，涡流无损检测技术的应用取得了很大的突破。低频脉冲涡流是近年发展起来的新检测技术，主要用于表面、亚表面缺陷检测，是涡流检测的一种新的应用领域。传统的涡流检测技术由于集肤效应的影响，很难有效的检测多层结构中的缺陷，而低频脉冲涡流则可以很好的解决部分多层结构中的问题。低频脉冲激励信号由一组正弦信号组成，通过频谱分析和涡流技术分析可得，响应信号中也会有多个正弦频率成分。理论上，通过分析响应信号，就可以得到缺陷在不同频率下的响应，从而大大提高检测效率。低频脉冲涡流的数据分析主要是基于检测信号的特征提取：如检测信号的尾部特征、检测信号的最大值、检测信号的最大值的出现的时间等。现有的低频涡流探头用检测线圈来检测信号，虽然价格便宜，可是对低频信号检测效果不好，而且体积比较大。本实用新型探头采用霍尔元件来测量低频磁场信号，体积小，而且测量准确，为涡流在线检测系统的数据分析提供支持。

实用新型内容

本实用新型的目的在于改进上述现有技术中的不足而提供一种新型低频脉冲涡流探头。

本实用新型的目的通过以下措施来达到：

低频脉冲涡流探头包括一探头接触端面，激励线圈，探头外壳，激励线圈的接线端头，探头外壳后端盖的开口处，霍尔元件的接线端头，霍尔元件；所述探头外壳是一个带后端盖的圆管，所述圆管的后端盖有一开口处，所述的激励线圈的接线端头和所述的霍尔元件的接线端头从所述圆管的后端盖开口处穿出；所述的探头接触端面和所述的探头外壳连接，所述的激励线圈和所述的霍尔元件固定在所述的探头接触端面上；所述的激励线圈是空心线圈，所述霍尔元件放置在所述的激励线圈中间空心处。

霍尔元件测量磁场的方法很简单，只要给霍尔元件加上稳定直流电压，霍尔元件就可以给出与磁场强度相关的模拟或数字信号。计算机通过分析低频脉冲涡流的数据，提取检测信号的特征：如检测信号的尾部特征、检测信号的最大值、检测信号的最大值的出现的时间等，可以得到工件缺陷信息。现在，低频脉冲涡流技术可以应用于多种行业、多种产品的在线检测，特别是多层结构中的缺陷检测、结构件疲劳裂纹探伤等。

本实用新型的优点在于：

本实用新型可以探测金属工件表面下的缺陷；因为采用霍尔元件，低频测量效果好，而且整个探头体积小，便于携带。

附图说明

图1：本实用新型低频脉冲涡流探头的剖面结构示意图。

具体实施方式

如图1所示为本实用新型低频脉冲涡流探头的结构示意图。新型涡流探头，包括一探头接触端面1，激励线圈2，探头外壳3，激励线圈的接线端头4，探头外壳后端盖的开口处5，霍尔元件的接线端头6，霍尔元件7。所述探头外壳3是一个带后端盖的圆管，所述圆管的后端盖有一开口处5，所述的激励线圈的接线端头4和所述的霍尔元件的接线端头6从所述圆管的后端盖开口处5穿出；所述的探头接触端面1和所述的探头外壳3连接，所述的激励线圈2和所述的霍尔元件7固定在所述的探头接触端面1上；所述的激励线圈2是空心线圈；所述的霍尔元件7放置在所述的激励线圈2中间空心处。

激励线圈2安装在探头壳体3中，并且激励线圈的接线端头4和霍尔元件的接线端头6从探头外壳后端盖的开口处5伸出。

使用涡流探头探测缺陷时，探头接触端面1放在被测元件上，激励线圈发射脉冲信号，霍尔元件检测周围磁场信息，产生探测信号，探测信号经过放大、滤波等电路后输入到计算机中进行数据处理；然后就可以得到工件表面及表面下的缺陷信息。

采用本实用新型探头的低频脉冲涡流监测系统，可以应用于多种行业、多种产品的在线检测，特别是金属多层结构中的缺陷检测、金属结构件疲劳裂纹探伤等。