[实用新型]具有电子式切换功能的射频性能测试结构

说明书

技术领域

本实用新型有关于一种射频性能测试结构，尤指一种具有电子式切换功能的射频性能测试结构。

背景技术

科技的普及和发展，不仅改变了人们的生活方式，亦使得社会形态起了相当大的变化，尤其是无线通讯技术的发展与普及，改变了人际间沟通的方式与频率，更缩短了人与人之间的距离。也因此，对于移动通讯的品质要求，也不断地增加。要达到较高品质的移动通讯品质，除了要有良好的通讯系统设计外，天线与射频元件的设计也成为极重要的一环。

然而，现今对无线通讯技术的发展需求，天线增益的增加为目前重要的技术发展瓶颈。因此，如何能让既有的天线设计发展为具有较高增益的天线，莫不成为研发人员所思索的课题。除了设计之外，一个相当重要的问题即是频率样本的测试，除了检测设计出来的射频元件的频宽及辐射能量是否达到标准外，更是射频元件操作品质最重要的一环。

目前在射频元件样本的测试，均采用一种称为射频开关(RF switch)作为测试的元件。利用射频开关主要的目的在于：测试射频信号样本(RF Sample)时，以切断天线端的信号输出，并将全部的功率传至测试仪器，方能得到正确的输出功率，确保所得到数据的正确性。

虽然使用射频开关为一种相当普遍的方式，然而却仍然具有许多可以待改进的空间。首先是价格的问题，上述的射频开关大约0.1元美金，对于天线的制造商或研发人员而言，可谓相当的昂贵。另外，在具有射频天线的印刷电路板上，放置射频开关作为测试的元件，相当的占用空间，在目前缩小化的设计潮流下，采用射频开关可能会遭遇到许多的困难。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种具有电子式切换功能的射频性能测试结构。本实用新型通过一电子式电路切换芯片的使用，以更简单且更便宜的方式来进行射频元件的射频性能的测试。

为了解决上述技术问题，根据本实用新型的其中一种方案，提供一种具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其通过一射频测量仪器以用于测试一射频元件的射频性能，该射频性能测试结构包括：一天线元件、一射频测试接点及一电子式电路切换芯片。其中，该射频测试接点电性连接于该射频测量仪器。该电子式电路切换芯片至少具有一第一切换控制输入端、一第二切换控制输入端、一电性连接于该射频元件的射频信号输入端、一电性连接于该天线元件的第一射频信号输出端、及一电性连接于该射频测试接点的第二射频信号输出端，其中通过该第一切换控制输入端与该第二切换控制输入端分别所接收到的不同信号，以使得该射频信号输入端从该射频元件所接收到的射频信号可选择地(selectably)传送至该天线元件或上述已电性连接至该射频测试接点的射频测量仪器。

为了解决上述技术问题，根据本实用新型的其中一种方案，提供一种具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其通过一射频测量仪器以用于测试一射频元件的射频性能，该射频性能测试结构包括：一天线元件、一射频测试接点及一电子式电路切换芯片。该射频测试接点电性连接于该射频测量仪器。该电子式电路切换芯片电性连接于该射频元件、该天线元件及该射频测试接点，以将从该射频元件所接收到的射频信号选择性地传送至该天线元件或上述已电性连接至该射频测试接点的射频测量仪器。

因此，本实用新型的有益效果在于：当该第一切换控制输入端电性连接至一第一信号并且该第二切换控制输入端电性连接至一第二信号时，在一般正常使用该射频元件的情况下(该射频元件与该天线元件相互配合)，设定该第一信号大于该第二信号，因此本实用新型的射频元件所输出的射频信号可通过该电子式电路切换芯片的切换而传送至该天线元件。在进行该射频元件的射频性能测试的情况下(切断该射频元件与该天线元件的配合关)，设定该第一信号小于该第二信号，因此本实用新型的射频元件所输出的射频信号可通过该电子式电路切换芯片的切换而传送至上述已电性连接至该射频测试接点的射频测量仪器，以利用该射频测量仪器来进行该射频元件的相关射频性能测试。

为了能更进一步了解本实用新型为达成预定目的所采取的技术、手段及功效，请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图，相信本实用新型的目的、特征与特点，当可由此得一深入且具体的了解，然而所附附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制。

附图说明

图1A为本实用新型具有电子式切换功能的射频性能测试结构的第一实施例的功能方块图(一般正常使用该射频元件的情况下)；

图1B为本实用新型具有电子式切换功能的射频性能测试结构的第一实施例的功能方块图(在进行该射频元件的射频性能测试的情况下)；

图2为本实用新型具有电子式切换功能的射频性能测试结构的探针元件的侧视示意图；