[实用新型]一种铜线键合IC芯片封装件

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子信息自动化元器件制造技术领域，尤其涉及到一种IC芯片集成电路封装，具体说是一种铜线键合IC芯片封装件。

背景技术

虽然在20世纪80年代晚期和90年代早期，几乎所有半导体制造商都在开展铜线键合研制工作，但由于成品率的问题和铜线本身的一些局限性，他们都没能进入大批量IC制造业中。目前经过铜线键合工艺的优化和在铜线及支持设备上的重要改进，已在低档和简单线路设计的IC芯片封装中得以批量生产。但对于多引脚产品，由于IC芯片焊盘(PAD)下有较复杂的线路设计，铜线键合时产生的弹坑，会给产品带来致命损伤。为了防止铜线键合焊点产生弹坑，封装工艺不得不对IC芯片提出了较高的要求，IC芯片焊盘(PAD)下的钝化层既要厚，又要坚硬，IC芯片焊盘上的铝层厚度不得小于3μm。这样的要求给芯片制造增加了成本，在芯片制造成本与性价比激烈竞争的状况下，要让芯片制造商改进的可能性很小。正常铜线键合方法是先在IC芯片焊盘(PAD)上打一个铜键合球，然后拱丝拉弧，在引线框架内引脚上打一个楔形焊点。由于铜线相对于金线较硬，铜键合焊点直接打在IC芯片焊盘(PAD)上容易产生弹坑，影响产品的质量和可靠性。

发明内容

本实用新型就是为了解决铜线键合在IC芯片焊盘上产生弹坑问题，存在质量和可靠性隐患，并制约了铜线键合封装向多引脚和高端产品推广的进程的技术问题，从而提供一种能避免产生弹坑、简单易行的一种铜线键合IC芯片封装件。

本实用新型采用下述技术手段解决其技术问题：

一种铜线键合IC芯片封装件，包括引线框架载体、引线框架内引脚、引线框架外引脚、塑封体、粘片胶、IC芯片。所述IC芯片的焊盘上预植一个金球，在金球上堆叠铜键合球，拱丝拉弧在引线框架内引脚上打一个铜焊点，使IC芯片的焊盘与引线框架引脚相连。所述塑封体覆盖IC芯片、焊盘上的金球、堆叠金球上的铜球、拱丝拉弧在引线框架内引脚上的铜焊点及引线框架部分引脚，构成电路的整体。

本实用新型结构简单合理，由于先在IC芯片焊盘(PAD)上已预植了一个金球，铜键合球是打在金球上，而不与IC芯片焊盘直接接触，因此不会产生弹坑。既解决了铜线键合直接在IC芯片焊盘上打线出现弹坑的难题，又可在多引脚封装中应用，效果很好。本实用新型不仅可以推广到多引脚封装，而且还可以推广到其它高端封装，实现铜线代替金线键合，节约金线焊线成本更加明显，将产生良好的经济效益和社会效益。

附图说明

图1为现有铜线键合产品结构剖面示意图；

图2为本实用新型结构示意图；

图3为本实用新型金球上堆叠铜键合球示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细叙述：

一种新型铜线键合IC芯片封装件，包括引线框架载体1、引线框架内引脚6、塑封体10、粘片胶2、IC芯片3。所述引线框架载体上通过片胶2粘接IC芯片3，IC芯片3的焊盘4上先预植一个金球5，然后再在金球5上堆叠铜键合球7，拱丝拉弧8在引线框架内引脚6上打一个铜焊点9，使IC芯片3的焊盘4与引线框架内引脚6相连，构成电路的信号和电流通道。塑封料10覆盖了IC芯片3、焊盘4上的金球5、堆叠在金球5上的铜键合球7及拱丝拉弧8在引线框架内引脚6上打的铜焊点9及引线框架部分引脚，构成电路的整体，并对电路起到了保护和支撑作用。